[实用新型]一种静电保护结构无效

专利信息
申请号: 201020688145.2 申请日: 2010-12-30
公开(公告)号: CN201994299U 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: 杭晓伟;彭秋平;贾力;张祯 申请(专利权)人: 苏州华芯微电子股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 北京华夏博通专利事务所 11264 代理人: 孙东风
地址: 215011 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供一种静电保护结构,由NMOS管、电阻和压焊点构成;NMOS管的栅端、P型衬底和源端连接并接地,漏端与压焊点连接;电阻一端接压焊点,另一端为静电保护结构的输出端与芯片内部电路连接;NMOS管还包括N型扩散区、多晶硅、源端衬底引出线和隔离环;多晶硅与N型扩散区交叠部分形成栅端;N型扩散区为P型衬底上的N阱,源端和漏端均由N阱构成,且源端和漏端成叉指状交错分部;源端和漏端所在N阱内均设有通孔,源端的通孔与源端衬底引出线连接,隔离环与源端连接;源端衬底引出线还与P型衬底连接;电阻由多晶硅构成,多晶硅直接与压焊点连接。本实用新型在不变工艺条件下可提高抗ESD能力,缩小芯片面积,降低芯片成本,且不影响芯片性能。
搜索关键词: 一种 静电 保护 结构
【主权项】:
一种静电保护结构,其特征在于:它由NMOS管、电阻和压焊点构成;NMOS管的栅端、P型衬底和源端连接并接地,漏端与压焊点连接;电阻一端接压焊点,另一端为静电保护结构的输出端与芯片的内部电路连接;所述的NMOS管还包括N型扩散区、多晶硅、源端衬底引出线和隔离环;多晶硅与N型扩散区交叠部分形成栅端;N型扩散区为P型衬底上的N阱,源端和漏端均由N阱构成,且源端和漏端成叉指状交错分布,形成多个小NMOS管并联结构;源端和漏端所在的N阱内均设有通孔,源端的通孔与源端衬底引出线连接,隔离环与源端连接;源端衬底引出线还与P型衬底连接;所述的电阻由多晶硅构成,与压焊点连接时由多晶硅直接与压焊点连接。
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