[实用新型]一种静电保护结构无效
| 申请号: | 201020688145.2 | 申请日: | 2010-12-30 |
| 公开(公告)号: | CN201994299U | 公开(公告)日: | 2011-09-28 |
| 发明(设计)人: | 杭晓伟;彭秋平;贾力;张祯 | 申请(专利权)人: | 苏州华芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L29/78;H01L29/06 |
| 代理公司: | 北京华夏博通专利事务所 11264 | 代理人: | 孙东风 |
| 地址: | 215011 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 本实用新型提供一种静电保护结构,由NMOS管、电阻和压焊点构成;NMOS管的栅端、P型衬底和源端连接并接地,漏端与压焊点连接;电阻一端接压焊点,另一端为静电保护结构的输出端与芯片内部电路连接;NMOS管还包括N型扩散区、多晶硅、源端衬底引出线和隔离环;多晶硅与N型扩散区交叠部分形成栅端;N型扩散区为P型衬底上的N阱,源端和漏端均由N阱构成,且源端和漏端成叉指状交错分部;源端和漏端所在N阱内均设有通孔,源端的通孔与源端衬底引出线连接,隔离环与源端连接;源端衬底引出线还与P型衬底连接;电阻由多晶硅构成,多晶硅直接与压焊点连接。本实用新型在不变工艺条件下可提高抗ESD能力,缩小芯片面积,降低芯片成本,且不影响芯片性能。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 静电 保护 结构 | ||
【主权项】:
一种静电保护结构,其特征在于:它由NMOS管、电阻和压焊点构成;NMOS管的栅端、P型衬底和源端连接并接地,漏端与压焊点连接;电阻一端接压焊点,另一端为静电保护结构的输出端与芯片的内部电路连接;所述的NMOS管还包括N型扩散区、多晶硅、源端衬底引出线和隔离环;多晶硅与N型扩散区交叠部分形成栅端;N型扩散区为P型衬底上的N阱,源端和漏端均由N阱构成,且源端和漏端成叉指状交错分布,形成多个小NMOS管并联结构;源端和漏端所在的N阱内均设有通孔,源端的通孔与源端衬底引出线连接,隔离环与源端连接;源端衬底引出线还与P型衬底连接;所述的电阻由多晶硅构成,与压焊点连接时由多晶硅直接与压焊点连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





