[实用新型]半导体元件封装设备有效
| 申请号: | 201020002409.4 | 申请日: | 2010-01-06 |
| 公开(公告)号: | CN201601115U | 公开(公告)日: | 2010-10-06 |
| 发明(设计)人: | 黄良印;洪世杰;邱创文 | 申请(专利权)人: | 均豪精密工业股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本实用新型公开了一种半导体元件封装设备,包含有控制模块、基板输送机构、预热装置、基板预检机构、晶粒预压机构、晶粒压合机构、晶片承载机构、晶粒备载机构以及晶粒取放机构,其中基板预检机构可用以检测基板的标示码,并将检测结果传至控制模块,再透过晶粒取放机构自晶片承载机构取出具有不同特性的晶粒放置于晶粒预压机构中的承载台上,承载台将晶粒移至晶粒预压机构中进行预压后,再由基板输送机构将粘有晶粒的基板移至压合区完成粘晶工艺。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 元件 封装 设备 | ||
【主权项】:
一种半导体元件封装设备,其特征在于,包含有:一控制模块;一基板输送机构,包含有一预热区、一预检区、一预压区与一压合区等区段,至少一基板通过该基板输送机构沿该等区段间移动,各基板上的适当位置设有标示码,标示该基板的第一特性与第二特性;一预热装置,设置于该预热区;一基板预检机构,设置于该预检区;一晶粒预压机构,设置于该预压区;至少一晶粒压合机构,设置于该压合区;一晶片承载机构,设置于该基板输送机构之一侧,该晶片承载机构承载一晶片,该晶片包含多个晶粒,各晶粒具有其对应的标示码,代表该晶粒的第一特性与第二特性;一晶粒备载机构,邻近设置于该晶片承载机构,承载多个具有第二特性的晶粒;以及一承载台,设置于该基板传输送机构与该晶片承载机构之间,承接一晶粒并移动至预压区的该基板传输机构下方;一晶粒取放机构,设置于该晶片承载机构与该承载台之间,自该晶片承载机构或自该晶粒备载机构移送一晶粒至该承载台。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于均豪精密工业股份有限公司,未经均豪精密工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201020002409.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:太阳能电板EVA膜送料机构
- 下一篇:一种带有地脚螺栓保护帽的断路器支架
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





