[发明专利]使用自适应编程验证方案的闪速存储器件和相关操作方法有效
| 申请号： | 201010622089.7 | 申请日： | 2010-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN102157204A | 公开（公告）日： | 2011-08-17 |
| 发明（设计）人： | 尹翔镛;尹铉竣;金甫根;朴起台;金武星 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 戎志敏 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种对闪速存储器件进行编程的方法，包括：对选定的存储单元编程；执行验证操作，以确定选定的存储单元是否达到了目标编程状态；以及基于与检测初始编程状态的编程期间的合格比特相关联的编程特性，来确定验证操作的起始点。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 自适应 编程 验证 方案 存储 器件 相关 操作方法 | ||
【主权项】：
一种对闪速存储器件编程的方法，包括：对选定的存储单元编程；执行验证操作，以确定选定的存储单元的阈值电压是否达到了与目标编程状态相对应的验证电平；根据与检测选定的存储单元中的初始合格比特相关联的参数，确定针对至少一个目标编程状态的验证起始点；和根据与检测将多个选定的存储单元成功编程为最低的目标编程状态相关联的参数，确定针对至少一个目标编程状态的验证结束点。
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