[发明专利]用于等离子显示屏驱动芯片的SOI器件无效

专利信息
申请号: 201010594793.6 申请日: 2010-12-17
公开(公告)号: CN102097441A 公开(公告)日: 2011-06-15
发明(设计)人: 乔明;罗波;胡曦;叶俊;张波;李肇基 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L29/06;G09G3/28
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 逯长明
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明实施例公开了一种用于等离子显示屏驱动芯片的SOI器件,自下而上依次包括:衬底、埋氧层、n型SOI层,所述SOI层中集成HV-NMOS、HV-PMOS、Field-PMOS、LIGBT、CMOS、NPN、PNP和HV-PNP器件;其中,所述SOI层内具有n+掺杂区,位于n型SOI层与埋氧层界面处。本发明在n型SOI层与埋氧层界面处,设置n型SOI层内的n+掺杂区,并且n+掺杂区的掺杂浓度大于n型SOI层的掺杂浓度,使得空穴反型层和电离N+区的正电荷作用增强了埋氧层电场,削弱了SOI层中的电场,使得器件发生击穿时,单位厚度的埋氧层可承担更高的纵向耐压,打破常规SOI高压器件纵向耐压限制。
搜索关键词: 用于 等离子 显示屏 驱动 芯片 soi 器件
【主权项】:
一种用于等离子显示屏驱动芯片的S0I器件,其特征在于,自下而上依次包括:衬底、埋氧层、n型SOI层,所述SOI层中集成HV‑NMOS、HV‑PMOS、Field‑PMOS、LIGBT、CMOS、NPN、PNP和HV‑PNP器件;其中,所述SOI层内具有n+掺杂区,位于n型SOI层与埋氧层界面处。
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