[发明专利]半导体装置及其芯片选择方法无效
| 申请号： | 201010267765.3 | 申请日： | 2010-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN102208397A | 公开（公告）日： | 2011-10-05 |
| 发明（设计）人： | 高在范;崔俊基 | 申请（专利权）人： | 海力士半导体有限公司 |
| 主分类号： | H01L25/00 | 分类号： | H01L25/00 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 郭放;黄启行 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种半导体装置，包括：个体芯片指定码设置模块，被配置为产生具有不同值的多个个体芯片指定码；个体芯片激活模块，被配置为将多个个体芯片激活信号中的个体芯片激活信号使能，被使能的个体芯片激活信号对应于当个体芯片指定码与个体芯片控制码匹配时的个体芯片指定码；以及控制模块，被配置为响应于芯片选择熔丝信号和测试熔丝信号来设置个体芯片控制码或者将芯片选择地址输出作为个体芯片控制码。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 及其 芯片 选择 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体装置，包括：个体芯片指定码设置模块，所述个体芯片指定码设置模块被配置为产生具有不同值的多个个体芯片指定码；个体芯片激活模块，所述个体芯片激活模块被配置为将多个个体芯片激活信号中的个体芯片激活信号使能，其中，被使能的所述个体芯片激活信号对应于当所述个体芯片指定码中的一个与个体芯片控制码匹配时的个体芯片指定码；以及控制模块，所述控制模块被配置为响应于芯片选择熔丝信号和测试熔丝信号来设置所述个体芯片控制码或者将芯片选择地址输出作为所述个体芯片控制码。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海力士半导体有限公司，未经海力士半导体有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010267765.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
