[发明专利]用于探测物体的方法

摘要

本发明涉及一种用于探测物体的方法，其中通过多个发射模块将光图案照射到观察区中，发射模块被相互隔开，其中由至少一个空间分辨探测器单元探测从观察区反向辐射的光，其中根据光切原理基于探测到的光确定位于观察区中的物体的表面轮廓，其中发射模块相互隔开的间隔提供最大空间分辨率。该方法的特征在于，在概观测量中，发射模块的第一选择被启用，由发射模块的第一选择确提供第一空间分辨率，在物体测量中，发射模块的第二选择被启用，由发射模块的第二选择提供第二空间分辨率或者由发射模块的第二选择与属于第一选择的、至少选定数目的发射模块共同提供第二空间分辨率，其中第二空间分辨率大于第一空间分辨率。

主权项

一种用于探测物体的方法，其中通过多个发射模块将光图案照射到观察区中，所述发射模块被相互隔开，其中由至少一个空间分辨探测器单元探测从所述观察区反向辐射的光，其中根据光切原理基于探测到的光确定位于所述观察区中的物体的表面轮廓，其中所述发射模块相互隔开的间隔提供最大空间分辨率，其中在概观测量中，发射模块的第一选择被启用，其中通过发射模块的所述第一选择提供第一空间分辨率，其中在物体测量中，发射模块的第二选择被启用，其中通过发射模块的所述第二选择提供第二空间分辨率或者通过发射模块的所述第二选择与属于所述第一选择的、至少选定数目的所述发射模块共同提供第二空间分辨率，其中所述第二空间分辨率大于所述第一空间分辨率。