[发明专利]积层式晶片的制造方法与工艺调校方法无效

专利信息
申请号: 201010185218.0 申请日: 2010-05-20
公开(公告)号: CN102254794A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 黄其集 申请(专利权)人: 钰铠科技股份有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01G4/00
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台湾台中*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是有关于一种积层式晶片的制造方法与工艺调校方法,主要是一片载板一表面涂覆一第一导电层,然后,该载板的表面涂覆一绝缘层,使该绝缘层覆盖该第一导电层,再以电子束轰击该绝缘层,使该绝缘层形成显露该第一导电层的数个孔洞,最后,该绝缘层一表面涂覆一第二导电层,使该第二导电层透过前述孔洞与该第一导电层导接。借此,能够以程式控制击发位置的电子束,省略对位的困扰及程序,进而能提升成品精度,且进一步应用于工艺调校方法中,同样可以达到简化对位程序,及节省人力与调校时间的目的。
搜索关键词: 积层式 晶片 制造 方法 工艺 调校
【主权项】:
一种积层式晶片的制造方法,其特征在于其包含下列步骤:步骤1:备置一片载板;步骤2:该载板一表面涂覆一第一导电层;步骤3:该载板的表面涂覆一绝缘层,使该绝缘层覆盖该第一导电层;步骤4:以电子束轰击该绝缘层,使该绝缘层形成显露该第一导电层的数个孔洞;及步骤5:该绝缘层一表面涂覆一第二导电层,使该第二导电层透过前述孔洞与该第一导电层导接。
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