[发明专利]等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法及检测设备无效
| 申请号： | 201010178261.4 | 申请日： | 2010-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN101800142A | 公开（公告）日： | 2010-08-11 |
| 发明（设计）人： | 陈超 | 申请（专利权）人： | 四川虹欧显示器件有限公司 |
| 主分类号： | H01J9/42 | 分类号： | H01J9/42 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚 |
| 地址： | 621000 四川省绵阳市*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法及检测设备，该检测方法包括以下步骤：获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较；根据比较结果判断与第一和第二图像区相对应的等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷，并进而根据存在荧光粉涂布缺陷的像素区的数量和位置判断整个等离子体显示屏是否存在荧光粉涂布缺陷。其中，在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较的步骤避开了现有技术中使用标准模板的发光图像与被测模板的发光图像比对判断的方法。这样，就避开了由于标准模板上具有缺陷而导致误判断的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 等离子 显示屏 荧光粉 缺陷 检测 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较；根据比较结果判断与所述第一和第二图像区相对应的所述等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于四川虹欧显示器件有限公司，未经四川虹欧显示器件有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010178261.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
