[发明专利]等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法及检测设备

说明书

技术领域

本发明涉及等离子显示屏荧光粉涂布，更具体地，涉及等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法及检测设备。

背景技术

在对等离子显示屏基板进行荧光粉涂布的生产中，需要对等离子显示屏基板上涂布的荧光粉进行缺陷检测。现有的技术多采用紫外灯照射涂布有荧光粉的等离子显示屏基板，激发荧光粉发光，并在摄像部内部安装红、绿和蓝色的滤色片，从而分别对不同颜色的荧光粉摄影。然后，摄像部将分别拍摄到的红、绿和蓝色荧光粉发光图像进行图像处理。例如，针对红色的荧光粉发光图像，可以在其上设立坐标，定义零点坐标位置，然后将其上的每个坐标位置的被测像素区对应的图像区与一个标准模板的发光图像上的相应坐标位置的像素区对应的图像区进行例如色谱图的比对。对于某一个坐标位置的像素区对应的图像区，其与标准模板上相应位置的像素区对应的图像区在色谱图上的坐标距离差的大小决定了是否该像素区被判断为存在缺陷。

这种检测技术需要在摄像部内部安装滤色片，而且需要分别对不同颜色的荧光粉进行摄影。此外，在图像处理部中，需要分别对每种颜色的荧光粉图像的参数进行运算处理，运算过程繁琐，且相应设备复杂。尤其是，现有技术中所进行的比对计算都是将被测基板和一个标准模板的发光图像进行比对。然而，存在对于标准模板如何选择界定的问题。也就是说，在实际检测中，并没有完全可靠的方法来选择真正没有缺陷的标准模板。虽然出现了使用用多个模板的图像参数的平均值来做为比对标准的方法，但由于所用的多个模板是在一个母板上印刷出的，若母板上某处有不为人所知的缺陷，则所用的多个模板上的缺陷会在同一位置，仍然无法形成真正意义上的无缺陷的比对标准，容易造成误判断。

发明内容

本发明所要解决的一个技术问题是提供一种简单方便，避免使用标准模板进行比较时产生的误判断的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法。

本发明所要解决的另一个技术问题是提供一种使用简单方便，避免使用标准模板进行比较时产生的误判断的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备。

根据本发明的一个方面，提供了一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，包括以下步骤：获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较；根据比较结果判断与第一和第二图像区相对应的等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷。

进一步地，在判断的步骤后还包括，根据存在荧光粉涂布缺陷的像素区的数量和位置判断是否需要对等离子体显示屏进行缺陷处理，以及在需要进行缺陷处理的情况下，选择缺陷处理的方式。

进一步地，该图像参数为灰度值。

进一步地，在该比较步骤中，将第一图像区的灰度值与相邻的一个第二图像区的灰度值进行比较。

进一步地，在该比较步骤中，将第一图像区的灰度值与相邻的多个第二图像区的平均灰度值进行比较。

进一步地，该判断步骤包括：判断比较结果是否超过预定阈值；若超过预定阈值，则判断当前图像区相对应的等离子显示屏的像素区存在荧光粉涂布缺陷。

进一步地，预定阈值和/或图像区的大小是可调整的。

进一步地，获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像之前，还包括：在等离子显示屏基板上涂布所需涂布的多层荧光粉中的一层或部分层；或者在等离子显示屏基板上涂布所需涂布的多层荧光粉。

根据本发明的另一个方面，提供了一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备，其包括：图像获取部件，用于获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；以及图像处理部件，用于在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较，并根据比较结果判断与第一和第二图像区相对应的等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷，并进而根据存在荧光粉涂布缺陷的像素区的数量和位置判断是否需要对所述等离子体显示屏进行缺陷处理，以及在需要进行缺陷处理的情况下，选择缺陷处理的方式。

进一步地，该图像获取部件包括：发光部，用于照射等离子显示屏基板；摄像部，用对等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光图像进行拍摄。

进一步地，该检测设备还包括：滑台控制部，其中，滑台控制部控制摄像部沿等离子显示屏表面移动。

进一步地，摄像部包括并列排布的多台摄像机，该多台摄像机的视野范围总和覆盖整个涂布有荧光粉的等离子显示屏基板。

本发明具有以下有益效果：