[发明专利]等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法及检测设备

权利要求书

1.一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；

在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较；

根据比较结果判断与所述第一和第二图像区相对应的所述等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷。

2.根据权利要求1所述的离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，在所述判断的步骤后还包括，根据存在荧光粉涂布缺陷的像素区的数量和位置判断是否需要对所述等离子体显示屏进行缺陷处理，以及在需要进行缺陷处理的情况下，选择缺陷处理的方式。

3.根据权利要求1所述的离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，所述图像参数为灰度值。

4.根据权利要求3所述的离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，在所述比较步骤中，将所述第一图像区的灰度值与相邻的一个第二图像区的灰度值进行比较。

5.根据权利要求3所述的离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，在所述比较步骤中，将所述第一图像区的灰度值与相邻的多个第二图像区的平均灰度值进行比较。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，所述判断步骤包括：

判断所述比较结果是否超过预定阈值；

若超过所述预定阈值，则判断当前图像区相对应的所述等离子显示屏的像素区存在荧光粉涂布缺陷。

7.根据权利要求6所述的离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，所述预定阈值和/或所述图像区的大小是可调整的。

8.根据权利要求1所述的离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测方法，其特征在于，获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像之前，还包括：

在所述等离子显示屏基板上涂布所需涂布的多层荧光粉中的一层或部分层；或者

在所述等离子显示屏基板上涂布所需涂布的多层荧光粉。

9.一种等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备，其特征在于，包括：

图像获取部件(1)，用于获取等离子显示屏基板上涂布的荧光粉发光的图像；以及

图像处理部件(2)，用于在所获取的图像中将第一图像区与相邻的第二图像区进行图像参数的比较，并根据比较结果判断与所述第一和第二图像区相对应的所述等离子显示屏的第一和第二像素区是否存在荧光粉涂布缺陷，并进而根据存在荧光粉涂布缺陷的像素区的数量和位置判断是否需要对所述等离子体显示屏进行缺陷处理，以及在需要进行缺陷处理的情况下，选择缺陷处理的方式。

10.根据权利要求9所述的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备，其特征在于，所述图像获取部件包括：

发光部(11)，用于照射所述等离子显示屏基板(3)；

摄像部(12)，用于对所述等离子显示屏基板(3)上涂布的荧光粉发光图像进行拍摄。

11.根据权利要求10所述的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备，其特征在于，还包括：滑台控制部，其中，所述滑台控制部控制所述摄像部(12)沿所述等离子显示屏表面移动。

12.根据权利要求11所述的等离子显示屏荧光粉涂布缺陷的检测设备，其特征在于，所述摄像部(12)包括并列排布的多台摄像机，所述多台摄像机的视野范围总和覆盖整个涂布有荧光粉的所述等离子显示屏基板(3)。