[发明专利]对SPI控制芯片进行测试的方法及装置有效
| 申请号： | 201010157780.2 | 申请日： | 2010-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN101833063A | 公开（公告）日： | 2010-09-15 |
| 发明（设计）人： | 李俊鸿;郑卫国;叶晖 | 申请（专利权）人： | 广州市广晟微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 赵景平;逯长明 |
| 地址： | 510630 广东省广州市天*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种对SPI控制芯片进行测试的方法及装置，所述方法包括：选择PC机并口的三个不同打印输出端分别作为SPI控制芯片的时钟端、片选端和数据输入端，并选择PC机并口的一个打印输入端作为SPI控制芯片的数据输出端；利用选择的PC机并口的上述输入端和输出端模拟SPI，对所述SPI控制芯片进行测试。利用本发明，可以大大降低硬件成本，并提高应用的灵活性。 | ||
| 搜索关键词： | spi 控制 芯片 进行 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种对SPI控制芯片进行测试的方法，其特征在于，包括：选择PC机并口的三个不同打印输出端分别作为SPI控制芯片的时钟端、片选端和数据输入端，并选择PC机并口的一个打印输入端作为SPI控制芯片的数据输出端；利用选择的PC机并口的上述输入端和输出端模拟SPI，对所述SPI控制芯片进行测试。
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