[发明专利]对SPI控制芯片进行测试的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种对SPI(Serial PeripheralInterface，串行外设接口)控制芯片进行测试的方法及装置。

背景技术

SPI是一种串行同步通讯协议接口，由一个主设备和一个或多个从设备组成，主设备启动一个与从设备的同步通讯，从而完成数据的交换。SPI包括SDI(串行数据输入)、SDO(串行数据输出)、SCK(串行移位时钟)、CS(从使能信号)四种信号，其中，CS决定了唯一的与主设备通信的从设备。通讯时，数据在时钟的上升或下降沿由SDO输出，在紧接着的下降或上升沿由SDI输入，这样经过一定次数时钟的改变，完成相应数据长度数据的传输。在SPI传输中，数据是同步进行发送和接收的。数据传输的时钟基于来自主处理器的时钟脉冲。

对SPI控制芯片进行功能测试时，需要将芯片置于实验板上，通过SPI控制验证芯片功能。

在现有技术中，对被测芯片进行功能测试时，一般是将PC机应用软件通过单片机的串行口向单片机发送读写指令与数据。PC机上的应用软件使用Visual Studio，DELPHI等IDE(Integrated Development，集成开发环境)工具开发，或者使用Labview工具开发，通常是通过固定的界面+若干选项列表来改变软件的配置。

相应地，单片机对SPI总线操作，写入控制信息，读取被测芯片的信息，发送到PC机分析处理。一般通过单片机的片内外设SPI控制器对SPI总线进行操作，对于不带片内外设SPI控制器单片机的单片机，如MCS51系列单片机，可以使用单片机软件来模拟SPI的操作，包括串行时钟、数据输入和数据输出。

如图1所示，是MCS51系列单片机与存储器X25F008(E2PROM)的硬件连接图。

其中，P1.0模拟MCU(MicroControllerUnit，微控制单元)的SPI数据输出端，P1.1模拟SPI的SCK输出端，P1.2模拟SPI的CS端，P1.3模拟SPI的数据输入端。

在实现本发明的过程中，发明人发现采用这种测试方式，至少存在以下缺点：

(1)需要使用单片机作SPI总线的控制器，需要单片机电路板，硬件成本高，发生故障的概率也大。

(2)PC机软件内芯片配置信息的修改受到局限，修改寄存器的配置需要修改软件，重新生成，因此，应用上不够灵活方便。

发明内容

本发明实施例提供一种对SPI控制芯片进行测试的方法及装置，降低硬件成本，并提高应用的灵活性。

为此，本发明实施例提供如下技术方案：

一种对SPI控制芯片进行测试的方法，包括：

选择PC机并口的三个不同打印输出端分别作为SPI控制芯片的时钟端、片选端和数据输入端，并选择PC机并口的一个打印输入端作为SPI控制芯片的数据输出端；

利用选择的PC机并口的上述输入端和输出端模拟SPI，对所述SPI控制芯片进行测试。

优选地，所述方法还包括：

获取所述SPI控制芯片的寄存器描述信息；

解析所述寄存器描述信息，得到各寄存器的相关参数，所述相关参数包括：名称、位段起始和结束地址、读写属性；

所述对所述SPI控制芯片进行测试包括：

根据所述相关参数，对各寄存器进行初始化；

对各寄存器进行读写操作；

根据读写操作的结果验证所述SPI控制芯片的功能。

优选地，所述寄存器描述信息为txt格式文件。

优选地，所述方法还包括：

对所述输入端和输出端的状态进行监测，并显示其状态。

可选地，所述PC机并口的工作方式为以下任意一种：标准方式、ECP方式、EPP方式。

优选地，所述方法还包括：

利用转接电路对所述输入端进行保护，以去除干扰和毛刺。

一种对SPI控制芯片进行测试的装置，包括：

带用并口的PC机，所述PC机并口的三个不同打印输出端分别连接SPI控制芯片的时钟端、片选端和数据输入端，以及一个打印输入端连接SPI控制芯片的数据输出端，对所述SPI控制芯片进行测试。

优选地，所述PC机还包括：

存储器，用于存储所述SPI控制芯片的寄存器描述信息；

处理器，用于获取并解析所述寄存器描述信息，得到各寄存器的相关参数，所述相关参数包括：名称、位段起始和结束地址、读写属性；并根据所述相关参数，对各寄存器进行初始化；对各寄存器进行读写操作，根据读写操作的结果验证所述SPI控制芯片的功能。