[发明专利]对SPI控制芯片进行测试的方法及装置

权利要求书

1.一种对SPI控制芯片进行测试的方法，其特征在于，包括：

选择PC机并口的三个不同打印输出端分别作为SPI控制芯片的时钟端、片选端和数据输入端，并选择PC机并口的一个打印输入端作为SPI控制芯片的数据输出端；

利用选择的PC机并口的上述输入端和输出端模拟SPI，对所述SPI控制芯片进行测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取所述SPI控制芯片的寄存器描述信息；

解析所述寄存器描述信息，得到各寄存器的相关参数，所述相关参数包括：名称、位段起始和结束地址、读写属性；

所述对所述SPI控制芯片进行测试包括：

根据所述相关参数，对各寄存器进行初始化；

对各寄存器进行读写操作；

根据读写操作的结果验证所述SPI控制芯片的功能。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述寄存器描述信息为txt格式文件。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对所述输入端和输出端的状态进行监测，并显示其状态。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述PC机并口的工作方式为以下任意一种：标准方式、ECP方式、EPP方式。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

利用转接电路对所述输入端进行保护，以去除干扰和毛刺。

7.一种对SPI控制芯片进行测试的装置，其特征在于，包括：

带用并口的PC机，所述PC机并口的三个不同打印输出端分别连接SPI控制芯片的时钟端、片选端和数据输入端，以及一个打印输入端连接SPI控制芯片的数据输出端，对所述SPI控制芯片进行测试。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述PC机还包括：

存储器，用于存储所述SPI控制芯片的寄存器描述信息；

处理器，用于获取并解析所述寄存器描述信息，得到各寄存器的相关参数，所述相关参数包括：名称、位段起始和结束地址、读写属性；并根据所述相关参数，对各寄存器进行初始化；对各寄存器进行读写操作，根据读写操作的结果验证所述SPI控制芯片的功能。

9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

显示单元，用于显示所述输入端和输出端的状态。

10.根据权利要求7至9任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

转接电路，用于对所述输入端进行保护，以去除干扰和毛刺。