[发明专利]半导体器件的制造方法无效

专利信息
申请号: 201010150645.5 申请日: 2005-11-17
公开(公告)号: CN101916748A 公开(公告)日: 2010-12-15
发明(设计)人: 埜本隆司;爱场喜孝 申请(专利权)人: 富士通半导体股份有限公司
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L23/31;H01L21/68;H01L21/56;H01L21/60
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 王永刚
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种半导体器件的制造方法。在粘接带(2)上配置至少一个半导体元件和多个外部连接用端子用导电部件(6),电连接半导体元件的电极和导电部件(6)。在粘接带(2)上通过密封树脂(12)密封半导体元件和导电部件(6),从半导体器件剥离粘接带(2)。导电部件(6)是分别形成的颗粒状的导电部件,从密封树脂(12)露出,作为外部连接用端子(安装用端子)发挥功能。即便半导体元件的种类不同,也可以不用专用的部件,而通过变更导电部件(6)的配置来制造不同的半导体装置。
搜索关键词: 半导体器件 制造 方法
【主权项】:
一种半导体器件,其特征在于,具有:半导体元件;连接到该半导体元件的电极上的多个颗粒状的第一导电部件;覆盖所述半导体元件的一个表面的粘接剂;埋入所述粘接剂中的多个颗粒状的第二导电部件;密封所述半导体元件、所述第一导电部件和所述粘接剂的密封树脂,所述第一导电部件埋入所述密封树脂中,且所述第一导电部件的表面从所述密封树脂露出,作为所述半导体元件的外部连接用端子发挥作用,所述粘接剂的表面从所述密封树脂的表面露出,且所述第二导电部件的表面从所述粘接剂的所述表面露出。
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