[发明专利]测量LTE移动终端的邻道泄露比的系统及方法

摘要

本发明提供了一种测量LTE移动终端的邻道泄漏比(ACLR)的系统及方法，本发明通过现有LTE基站或系统模拟器，及衰落信道模拟器，有效方便地实现了测量LTE移动终端高速移动产生多普勒(Doppler)效应时的ACLR，在高速运动条件下，很好地衡量了LTE移动终端的工作性能，从而有助于提高LTE系统的性能。本发明系统具有环境要求低，易测试，简便易行的优点，与现有设备接口完全兼容且具有通用性。

主权项

一种测量长期演进(LTE)移动终端的邻道泄漏比的系统，其特征在于，主要包括LTE基站模拟器或LTE系统模拟器，衰落信道模拟器、双工器和LTE移动终端，该系统置于与外界无线电屏蔽的电磁屏蔽室中，其中，LTE基站模拟器或LTE系统模拟器，用于模拟LTE基站或LTE系统环境，在下行方向与衰落信道模拟器连接，上行方向直接与双工器连接；衰落信道模拟器，用于模拟信道衰落，连接在LTE基站模拟器与双工器之间的下行方向上；LTE移动终端与双工器连接；通过设置衰落信道模拟器的多普勒(Doppler)频移的扫描幅度、扫描周期，以及设置LTE基站模拟器或LTE系统模拟器，和LTE移动终端的信道参数，测量LTE移动终端的邻道泄漏比(ACLR)。