[发明专利]测量LTE移动终端的邻道泄露比的系统及方法

权利要求书

1.一种测量长期演进(LTE)移动终端的邻道泄漏比的系统，其特征在于，主要包括LTE基站模拟器或LTE系统模拟器，衰落信道模拟器、双工器和LTE移动终端，该系统置于与外界无线电屏蔽的电磁屏蔽室中，其中，

LTE基站模拟器或LTE系统模拟器，用于模拟LTE基站或LTE系统环境，在下行方向与衰落信道模拟器连接，上行方向直接与双工器连接；

衰落信道模拟器，用于模拟信道衰落，连接在LTE基站模拟器与双工器之间的下行方向上；

LTE移动终端与双工器连接；

通过设置衰落信道模拟器的多普勒(Doppler)频移的扫描幅度、扫描周期，以及设置LTE基站模拟器或LTE系统模拟器，和LTE移动终端的信道参数，测量LTE移动终端的邻道泄漏比(ACLR)。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述LTE基站模拟器或LTE系统模拟器、衰落信道模拟器和LTE移动终端之间通过低损耗电缆相连接。

3.根据权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述电池屏蔽室使用的频段覆盖LTE移动终端的工作频段。

4.根据权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述衰落信道模拟器包括Doppler信道模拟器；

Doppler信道模拟器主要包括上变频器、下变频器、Doppler信号发生器、混频器及射频(RF)本振源。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述衰落信道模拟器的输入信号频率f_in、输入信号功率p_in及输出信号频率f_out、输出信号功率p_out及Doppler信号频率f_d满足如下的条件：

输出信号频率f_out＝输入信号频率f_in+Doppler信号频率f_d；

输出信号功率p_out＝输入信号功率p_in。

6.一种测量LTE移动终端的邻道泄漏比的方法，在权利要求1所述的系统中，其特征在于，该方法包括：

A.将所述LTE移动终端置于与外界无线电屏蔽的电磁屏蔽室中，使LTE移动终端和LTE基站模拟器或系统模拟器之间，通过串接衰落信道模拟器建立正常的无线链路，并且使LTE移动终端处于ACLR的待测量状态；

B.测量所述LTE移动终端在上述环境和条件下的ACLR。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述步骤A具体包括：

所述LTE基站模拟器或LTE系统模拟器、衰落信道模拟器和LTE移动终端之间通过低损耗电缆相连接；

设置所述衰落信道模拟器的Doppler频移的扫描幅度为零；设置LTE基站模拟器或LTE系统模拟器以及所述LTE移动终端的信道参数，测量此时所述LTE移动终端的ACLR；

调节所述衰落信道模拟器的Doppler频移的扫描周期，扫描幅度，测量此时所述LTE移动终端的误比特率。

8.根据权利要求7或8所述的方法，其特征在于，所述步骤B具体包括：在待测信道上，调节所述衰落信道模拟器的Doppler频移扫描幅度，保持所述扫描周期不变，测量此时所述LTE移动终端的误比特率为预设值时的ACLR。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述待测信道为专用传输信道(DCH)。