[发明专利]电子元件测试分类机有效

专利信息
申请号: 201010121217.X 申请日: 2010-03-10
公开(公告)号: CN102189082A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 蔡志欣 申请(专利权)人: 鸿劲科技股份有限公司
主分类号: B07C5/344 分类号: B07C5/344
代理公司: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人: 孙皓晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是一种电子元件测试分类机,在机台上配置有供料装置、收料装置、测试装置以及输送装置,所述的供料装置容纳复数个待测的电子元件,收料装置容纳复数个不同等级完测的电子元件,测试装置设有复数个测试座,所述的输送装置是在测试装置的前、后方各设有至少一载具,另设有至少两个移料臂,各移料臂设有复数个可作X-Y轴向变距以及Z轴向升降位移的取放器,用来在供料装置、收料装置、测试装置以及载具间移载待测/完测的电子元件;如此,可易于增设取放器,并更加调整缩小各取放器的X-Y轴向间距,以利取放电子元件,达到大幅提升测试产能以及作业便利性的实用效益。
搜索关键词: 电子元件 测试 分类机
【主权项】:
一种电子元件测试分类机,其特征在于,包含:机台;供料装置:配置在机台上,用来容纳复数个待测的电子元件;收料装置:配置在机台上,用来容纳复数个完测的电子元件;测试装置:配置在机台上,并设有具有复数个测试座的测试电路板,用来测试电子元件;输送装置:配置在机台上,并在测试装置的前、后方各设有至少一载具,用来载送电子元件,另设有至少两个具有复数个取放器的移料臂,用来移载电子元件,并在至少一移料臂上设有Z轴向驱动机构、X轴向调整机构以及Y轴向调整机构,用来使各取放器作Z轴向升降位移以及调整X‑Y轴向间距;中央控制单元:是用来控制以及整合各装置作动,以执行自动化作业。
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