[发明专利]电子元件测试分类机

说明书

技术领域

本发明涉及一种电子元件移载机构，特别涉及一种可易于增设取放器，并更加调整缩小各取放器的X-Y轴向间距，以利取放电子元件，而大幅提升测试产能以及作业便利性的电子元件测试分类机。

背景技术

请参阅图1，是坊间电子元件测试分类机的示意图，其是在机台的前方设有供料装置10以及收料装置20，并在机台的后方设有复数个测试装置30，所述的供料装置10设有至少一具有容置槽的料盘11，用来盛装复数个待测的电子元件，收料装置20也设有复数个具有容置槽的料盘21，用来盛装不同等级完测的电子元件，而测试装置30则设有具有复数个测试座32的测试电路板31，用来测试电子元件，另在机台上设有输送装置40，用来在供、收料装置10、20以及测试装置30间移载待测/完测的电子元件，所述的输送装置40是在收料装置20与测试装置30间设有载具41，用来载送待测/完测的电子元件，并在供、收料装置10、20与载具41间设有具有复数个取放器421的第一移料臂42，用来移载待测/完测的电子元件，以及在测试装置30与载具41间设有具有取放器431的第二移料臂43，用来移载待测/完测的电子元件，由于料盘11、21的各容置槽的间距与各测试座32的间距不同，即必须使第一、二移料臂42、43的各取放器421、431可作Y轴向间距调整，以便于料盘11、21以及测试座32处取放待测/完测的电子元件；请参阅图2、图3，以第一移料臂42为例，其是在机架422上设有第一、二马达423A、423B，用来各别驱动第一、两个Z轴向皮带轮组424A、424B，并在第一Z轴向皮带轮组424A上装配有第一取放器421A，而第二Z轴向皮带轮组424B上则装配有一具有Y轴向滑槽4251的掣动架425，并以Y轴向滑槽4251供一滑动架426的凸榫4261滑置，滑动架426的前面装配有第二取放器421B，并在背面装设有传动架427，且在传动架427与滑动架426间设有相配合的Z轴向滑轨4271以及Z轴向滑座4262，另在机架422的背面设有第三马达423C，用来驱动一位于机架422前面的Y轴向皮带轮组428作动，所述的Y轴向皮带轮组428则连结传动架427，在调整第一、二取放器421A、421B的Y轴向间距时，是以第一取放器421A作基准件，并控制第三马达423C驱动Y轴向皮带轮组428作动，令Y轴向皮带轮组428带动传动架427作Y轴向位移，传动架427利用Z轴向滑轨4271以及Z轴向滑座4262的传动而驱动滑动架426以凸榫4261沿掣动架425的Y轴向滑槽4251作Y轴向位移，使滑动架426带动第二取放器421B相对于第一取放器421A作Y轴向位移，而调整第一、二取放器421A、421B的Y轴向间距；然而，所述的第一移料臂42虽可使第一、二取放器421A、421B作Y轴向变距调整以及Z轴向升降位移，但第一、二取放器421A、421B作Z轴向升降位移是用来取放电子元件，并不涉及第一、二取放器421A、421B的间距调整，在第一、二取放器421A、421B的Y轴向间距调整设计上，所述的移料臂42仅以第三马达423C驱动Y轴向皮带轮组428，并经传动架427带动第二取放器421B作单一Y轴向位移，然在现今讲求高产能的趋势下，业者欲在第一移料臂42上增设X轴向平行排列的取放器，以提升取放电子元件作业的产能时，即必须使各列取放器可作X-Y轴向间距的调整，以应对不同料盘的容置槽间距以及各测试座的间距，方可便利取放电子元件，但所述的第一移料臂42的设计仅可使第一、二取放器421A、421B作单一Y轴向的间距调整，以致无法增设可作X轴向间距调整的取放器，造成取放电子元件作业产能受限的缺失。

因此，如何设计一种易于增设取放器，并可更加调整缩小各取放器的间距而便利取放电子元件，以提升测试产能以及作业便利性的电子元件测试分类机，即为业者研发的标的。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明的目的在于：提供一种电子元件测试分类机，使其易于增设取放器，并可更加调整缩小各取放器的间距而便利取放电子元件，以提升测试产能以及作业便利性。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种电子元件测试分类机，其特征在于，包含：

机台；

供料装置：配置在机台上，用来容纳复数个待测的电子元件；

收料装置：配置在机台上，用来容纳复数个完测的电子元件；

测试装置：配置在机台上，并设有具有复数个测试座的测试电路板，用来测试电子元件；