[发明专利]一种老化测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 201010034030.6 | 申请日： | 2010-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN102128991A | 公开（公告）日： | 2011-07-20 |
| 发明（设计）人： | 王光明;蔡秀娟 | 申请（专利权）人： | 北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 100871 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种老化测试装置及方法，用以提高老化试验的可靠性，以及准确率。该老化测试装置，包括：用以装载待测试的器件的老化座，以及用于固定所述老化座的老化板，所述老化座包括：对应所述待测试的器件的每个管脚设置的一组引脚组，其中，每一组引脚组中包括至少两个用于和对应管脚接触的引脚，其中一个用于与所述老化板上的老化测试引线相连。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 老化 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种老化测试装置，包括：用以装载待测试的器件的老化座，以及用于固定所述老化座的老化板，其特征在于，所述老化座包括：对应所述待测试的器件的每个管脚设置的一组引脚组，其中，每一组引脚组中包括至少两个用于和对应管脚接触的引脚，其中一个用于与所述老化板上的老化测试引线相连。
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