[发明专利]一种老化测试装置及测试方法有效
| 申请号： | 201010034030.6 | 申请日： | 2010-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN102128991A | 公开（公告）日： | 2011-07-20 |
| 发明（设计）人： | 王光明;蔡秀娟 | 申请（专利权）人： | 北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华 |
| 地址： | 100871 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 老化 测试 装置 方法 | ||
1.一种老化测试装置，包括：用以装载待测试的器件的老化座，以及用于固定所述老化座的老化板，其特征在于，所述老化座包括：对应所述待测试的器件的每个管脚设置的一组引脚组，其中，每一组引脚组中包括至少两个用于和对应管脚接触的引脚，其中一个用于与所述老化板上的老化测试引线相连。
2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述每一组引脚组中未用于与所述老化板上的老化测试引线相连的其他一个引脚，用于与所述老化板上对应的悬空引线一端相连。
3.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述悬空引线的另一端位于所述老化座在所述老化板上对应区域的外围。
4.如权利要求2或3所述的装置，其特征在于，所述老化板还包括：通孔，用于与所述悬空引线的另一端连接。
5.一种老化测试的方法，其特征在于，包括：
将待测试的器件装载到固定在老化板上的老化座中，其中，所述老化座包括：对应所述待测试的器件的每个管脚设置的一组引脚组，且每一组引脚组中包括至少两个用于和对应管脚接触的引脚；
测量所述待测试的器件的每个管脚，与对应引脚组中与所述老化板上的老化测试引线相连的一个引脚之间是否导通；
若是，通过所述老化板上的老化测试引线，对所述待测试的器件进行老化试验。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述测量所述待测试的器件的每个管脚，与对应引脚组中与所述老化板上的老化测试引线相连的一个引脚之间是否导通包括：
分别测量所述待测试的器件的每个管脚，与所述老化板上对应的老化测试引线是否导通。
7.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述测量所述待测试的器件的每个管脚，与对应引脚组中与所述老化板上的老化测试引线相连的一个引脚之间是否导通包括：
分别测量所述老化板上与每个管脚对应的老化测试引线，以及对应的悬空引线之间是否导通，其中，所述悬空引线的一端与对应引脚组中的未用于与所述老化板上的老化测试引线相连的其他一个引脚相连。
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