[发明专利]电子器件试验装置无效
| 申请号： | 201010005424.9 | 申请日： | 2005-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN101819238A | 公开（公告）日： | 2010-09-01 |
| 发明（设计）人： | 伊藤明彦;山下和之;小林义仁 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种电子器件试验装置，具有：多个测试单元(520)；搬入移载单元(510)，在多个被试验电子器件被搬入测试单元之前从客户托盘(4C)向测试托盘(4T)进行移载；以及分类移载单元(530)，依照多个被试验电子器件的测试结果从测试托盘向客户托盘一边进行分类一边进行移载，其中，搬入移载单元被设置在多个测试单元中的至少最前级，并且分类移载单元被设置在多个测试单元中的至少最后级，测试托盘从多个测试单元的最前级到最后级以搭载了被试验电子器件的状态顺次进行搬运，并从最后级的测试单元返回到最前级的测试单元。 | ||
| 搜索关键词： | 电子器件 试验装置 | ||
【主权项】：
一种电子器件试验装置，其特征在于，具有：多个测试单元，分别安装有被连接在向被试验电子器件输出测试信号并检查其应答信号的测试器上的测试头；搬入移载单元，被设置在上述多个测试单元中的最前级，在上述多个被试验电子器件被搬入上述测试单元之前将上述多个被试验电子器件从搬运媒介向测试托盘进行移载；以及搬出移载单元，被设置在上述多个测试单元中的最后级，将上述多个被试验电子器件从上述测试托盘向与试验结果对应的后工序的搬运媒介进行移载；以及搬送单元，设置在上述多个测试单元之间，从前级的测试单元向后级的测试单元搬送上述测试托盘，并且具有可保留多个测试托盘的缓冲部，以吸收在前级的测试单元与后级的测试单元之间产生的处理能力的差异造成的等待时间。
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