[发明专利]用于基于隔离型NMOS的ESD箝位单元的系统和方法有效
申请号: | 200980155230.2 | 申请日: | 2009-12-07 |
公开(公告)号: | CN102292813A | 公开(公告)日: | 2011-12-21 |
发明(设计)人: | D·弗莱伊;朱海阳 | 申请(专利权)人: | 美国亚德诺半导体公司 |
主分类号: | H01L23/62 | 分类号: | H01L23/62 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 金晓 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及一种用于保护IC芯片免受ESD的保护电路。集成电路芯片的ESD保护电路可以包括隔离型NMOS晶体管,该隔离型NMOS晶体管可以包括将背栅与衬底隔离的隔离区域、以及形成在背栅上的第一和第二掺杂区域以及栅。ESD保护电路还可以包括用于将隔离区域连接到第一电节点的第一端子、以及用于将第二掺杂区域连接到第二电节点的第二端子。第一电节点可以具有比第二电节点高的电压电平,并且栅和背栅可以耦合到第二端子。 | ||
搜索关键词: | 用于 基于 隔离 nmos esd 箝位 单元 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种用于集成电路芯片的ESD保护电路,包括:隔离型NMOS晶体管,包括:隔离区域,将背栅与衬底隔离,以及形成在所述背栅上的第一和第二掺杂区域以及栅;第一端子,用于将所述隔离区域连接到第一电节点;以及第二端子,用于将所述第二掺杂区域连接到第二电节点,其中所述第一电节点具有比所述第二电节点高的电压电平,并且所述栅和背栅耦合到所述第二端子。
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