[发明专利]确定成分模型判定装置、确定成分模型判定方法、程序、存储介质、测试系统、及电子设备无效

专利信息
申请号: 200980135539.5 申请日: 2009-10-26
公开(公告)号: CN102150051A 公开(公告)日: 2011-08-10
发明(设计)人: 山口隆弘;石田雅裕;一山清隆 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G01R29/02 分类号: G01R29/02;G01R31/28
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人: 齐永红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种确定成分模型判定装置,判定在所给予的概率密度函数中所包含的确定成分的模型,包括:计算在规定的变量轴上概率密度函数的频谱的频谱计算部;检测频谱在变量轴上的空值的空值检测部;基于空值检测部检测出的空值,对预先确定的多种类型的模型的确定成分的每一个,分别计算确定成分的频谱的理论值的理论值计算部;基于表示频谱计算部计算的频谱与各模型的确定成分的频谱的理论值之差分的各个频谱差,判定概率密度函数中所包含的确定成分的模型的模型判定部。
搜索关键词: 确定 成分 模型 判定 装置 方法 程序 存储 介质 测试 系统 电子设备
【主权项】:
一种确定成分模型判定装置,其判定在所给予的概率密度函数中包含的确定成分的模型,其特征在于,包括:频谱计算部,其计算在规定的变量轴上所述概率密度函数的频谱;空值检测部,其检测所述频谱在所述变量轴上的空值;理论值计算部,其基于所述空值检测部检测出的所述空值,对预先确定的多个模型的确定成分的每一个,分别计算所述确定成分的频谱的理论值;以及模型判定部,其基于表示所述频谱计算部计算的所述频谱与各模型的所述确定成分的频谱的理论值之差分的各个频谱差,判定所述概率密度函数中所包含的所述确定成分的模型。
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