[发明专利]确定成分模型判定装置、确定成分模型判定方法、程序、存储介质、测试系统、及电子设备

权利要求书

1.一种确定成分模型判定装置，其判定在所给予的概率密度函数中包含的确定成分的模型，其特征在于，包括：

频谱计算部，其计算在规定的变量轴上所述概率密度函数的频谱；

空值检测部，其检测所述频谱在所述变量轴上的空值；

理论值计算部，其基于所述空值检测部检测出的所述空值，对预先确定的多个模型的确定成分的每一个，分别计算所述确定成分的频谱的理论值；以及

模型判定部，其基于表示所述频谱计算部计算的所述频谱与各模型的所述确定成分的频谱的理论值之差分的各个频谱差，判定所述概率密度函数中所包含的所述确定成分的模型。

2.根据权利要求1所述的确定成分模型判定装置，其特征在于，

所述模型判定部，将从各模型的所述确定成分的频谱的理论值减去所述频谱计算部计算的所述频谱而得到的所述频谱差为比规定值小的正值的所述确定成分的模型、判定为所述概率密度函数中所包含的所述确定成分的模型。

3.根据权利要求1所述的确定成分模型判定装置，其特征在于，

所述模型判定部判定所述频谱差为最小的正值的所述确定成分的模型为所述概率密度函数中包含的所述确定成分的模型。

4.根据权利要求3所述的确定成分模型判定装置，其特征在于，

所述模型判定部在所述频谱计算部计算的所述频谱在规定的范围内不存在时，判定在所述概率密度函数中只包含随机成分。

5.根据权利要求3所述的确定成分模型判定装置，其特征在于，

所述空值检测部检测所述频谱的第1空值。

6.根据权利要求3所述的确定成分模型判定装置，其特征在于，

所述模型判定部包括频谱差计算部，该频谱差计算部对于每个所述确定成分模型计算所述频谱差。

7.一种确定成分模型判定方法，其判定在所给予的概率密度函数中所包含的确定成分的模型，其特征在于，包括：

计算在规定的变量轴上所述概率密度函数的频谱；

检测所述频谱在所述变量轴上的空值；

基于检测出的所述空值，对预先确定的多种模型的确定成分的每一个，分别计算所述确定成分的频谱的理论值；以及

基于表示所计算的所述频谱与各模型的所述确定成分的频谱的理论值之差分的各个频谱差，判定所述概率密度函数中所包含的所述确定成分的模型。

8.一种程序，其特征在于，

使计算机执行如权利要求1中所述确定成分模型判定装置的功能。

9.一种存储介质，其特征在于，存储如权利要求8中所述的程序。

10.一种测试系统，其测试被测试设备，其特征在于，包括：

测定部，其多次测定所述被测试设备的规定的特性；

根据权利要求1所述的确定成分模型判定装置，其判定所述测定部测定的特性值的概率密度函数中所包含的确定成分的模型，计算所述确定成分；以及

良否判定部，其基于所述确定成分模型判定装置计算的所述确定成分，判定所述被测试设备的良否。

11.一种电子设备，其生成规定的信号，其特征在于，包括：

动作电路，其生成所述规定的信号并输出；

测定部，其测定所述规定的信号的规定的特性；以及

根据权利要求1所述的确定成分模型判定装置，其判定所述测定部测定的特性值的概率密度函数中所包含的确定成分的模型，计算所述确定成分。