[发明专利]在存储装置测试系统中的温度控制有效
| 申请号： | 200980123145.8 | 申请日： | 2009-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN102089726A | 公开（公告）日： | 2011-06-08 |
| 发明（设计）人： | 布莱恩·S·梅洛 | 申请（专利权）人： | 泰拉丁公司 |
| 主分类号： | G05D23/00 | 分类号： | G05D23/00;G01R31/02;G11B20/18 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 谷惠敏;穆德骏 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种存储装置测试系统冷却电路(20)包括多个测试支架(100)。每个测试支架均包括测试槽室(700)和测试电子装置室(800)。每个测试槽室包括多个测试槽(500、500a、500b、540)，以及被配置已将冷却液输送到测试槽的一个或多个冷却导管(710)。每个测试电子装置室包括测试电子装置(160)，被配置以与测试槽连通，以执行测试算法；以及热交换器(810)，与一个或多个冷却导管液体连通。热交换器被配置以冷却引导至测试电子装置的气流。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 装置 测试 系统 中的 温度 控制 | ||
【主权项】：
一种存储装置测试系统冷却电路(20)，包括：多个测试支架(100)，每个所述测试支架均包括：测试槽室(700)，包括：多个测试槽(500、500a、500b、540)；以及一个或多个冷却导管(710)，被配置为将冷却液输送到所述测试槽；以及测试电子装置室(800)，包括：测试电子装置(160)，被配置为与所述测试槽连通，用于执行测试算法；以及热交换器(810)，与所述一个或多个冷却导管液体连通，被配置为冷却引导至所述测试电子装置的气流。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于泰拉丁公司，未经泰拉丁公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200980123145.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于校准锁相环路(PLL)的环路带宽的系统和方法
- 下一篇：准直光引擎
