[发明专利]在存储装置测试系统中的温度控制

权利要求书

1.一种存储装置测试系统冷却电路(20)，包括：

多个测试支架(100)，每个所述测试支架均包括：

测试槽室(700)，包括：

多个测试槽(500、500a、500b、540)；以及

一个或多个冷却导管(710)，被配置为将冷却液输送到所述测试槽；以及

测试电子装置室(800)，包括：

测试电子装置(160)，被配置为与所述测试槽连通，用于执行测试算法；以及

热交换器(810)，与所述一个或多个冷却导管液体连通，被配置为冷却引导至所述测试电子装置的气流。

2.根据权利要求1所述的存储装置测试系统冷却电路，进一步包括：进入导管(22)，设置在所述冷却导管与供液管线(23)之间，并被配置为将液流从所述供液管线输送到所述冷却导管。

3.根据权利要求2所述的存储装置测试系统冷却电路，其中，所述进入导管包括过滤器(26)，被配置以从所述液流中去除微粒。

4.根据权利要求2或3所述的存储装置测试系统冷却电路，其中，所述进入导管包括送进压力调节器(27)，被配置为控制所述液流到所述冷却导管的进入压力。

5.根据权利要求2至4中任一项所述的存储装置测试系统冷却电路，其中，所述进入导管包括分配总导管(28)，所述分配总导管包括多个T形连接(29)，每个所述T形连接均被配置为将所述液流分配到测试支架中的对应的一个。

6.根据权利要求2至5中任一项所述的存储装置测试系统冷却电路，其中，所述进入导管包括截止阀(34)，被配置为使所述测试支架与所述供液管线隔离。

7.根据权利要求2至5中任一项所述的存储装置测试系统冷却电路，其中，所述进入导管包括多个截止阀(34)，每个所述截止阀均被配置为使所述测试支架中对应的一个与所述供液管线隔离。

8.根据前述权利要求中任一项所述的存储装置测试系统冷却电路，还包括排出导管(24)，被设置在所述热交换器与液体返回管线(25)之间，并被配置为将液流从所述热交换器输送到所述液体返回管线。

9.根据权利要求8所述的存储装置测试系统冷却电路，其中，所述排出导管包括返回总导管(30)，所述返回总导管包括多个T形连接(29)，每个所述T形连接均提供在所述热交换器中对应的一个与所述返回总导管之间的液体连接。

10.根据权利要求8或9所述的存储装置测试系统冷却电路，其中，所述排出导管包括排出截止阀(35)，被配置为使所述测试支架与所述液体返回管线隔离。

11.根据权利要求8或9所述的存储装置测试系统冷却电路，其中，所述排出导管包括多个排出截止阀(29)，每一个所述排出截止阀均被配置为使所述测试支架中对应的一个与所述液体返回管线隔离。

12.根据权利要求8至11中任一项所述的存储装置测试系统冷却电路，其中，所述测试支架中的至少一个进一步包括鼓风机(816)，被设置在所述测试电子装置室内并被配置为引导气流穿过所述热交换器以及将该气流引导至所述测试电子装置，用于冷却所述测试电子装置。

13.根据前述权利要求中任一项所述的存储装置测试系统冷却电路，其中，所述测试电子装置室与所述测试槽室基本隔离，从而基本抑制了在所述测试电子装置室与所述测试槽室之间的气流。