[发明专利]辐射系统、辐射收集器、辐射束调节系统、用于辐射系统的光谱纯度滤光片以及用于形成光谱纯度滤光片的方法有效

专利信息
申请号: 200980120016.3 申请日: 2009-05-05
公开(公告)号: CN102047151A 公开(公告)日: 2011-05-04
发明(设计)人: V·巴尼内;W·德勃伊;J·鲁普斯特拉;A·范帝杰赛欧东克;G·斯温克尔斯;J·范斯库特 申请(专利权)人: ASML荷兰有限公司
主分类号: G02B5/08 分类号: G02B5/08;G02B5/18;G02B5/20;G02B5/28;G03F7/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 荷兰维*** 国省代码: 荷兰;NL
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种辐射系统被配置以产生辐射束。所述辐射系统包括腔,所述腔包括:辐射源,被配置以产生辐射;辐射束发射孔阑;和辐射收集器,被配置以收集由所述源产生的辐射,且将所收集的辐射传递至所述辐射束发射孔阑。所述辐射收集器包括被配置以改善经由所述孔阑被发射的所述辐射的光谱纯度的光谱纯度滤光片。所述光谱纯度滤光片包括:基衬底;在所述基衬底上的多层堆叠,所述多层堆叠包括多个交替层和在所述多层堆叠的顶侧中的多个凹陷,所述凹陷被配置以允许具有所述第一波长的辐射在所述第一方向上被反射和在所述第二方向上反射具有所述第二波长的辐射;其中,所述凹陷被配置成使得它们的横截面具有对称性的轮廓。
搜索关键词: 辐射 系统 收集 调节 用于 光谱 纯度 滤光 以及 形成 方法
【主权项】:
一种光谱纯度滤光片,被配置以在第一方向上反射具有第一波长的辐射和在与所述第一方向不同的第二方向上反射具有第二波长的辐射,所述光谱纯度滤光片包括:基衬底;在所述基衬底上的多层堆叠,所述多层堆叠包括多个交替层;和在所述多层堆叠的顶侧中的多个凹陷,所述凹陷被配置以允许具有所述第一波长的辐射在所述第一方向上被反射和在所述第二方向上反射具有所述第二波长的辐射;其中,所述凹陷被配置成使得它们的横截面是对称性的轮廓。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于ASML荷兰有限公司,未经ASML荷兰有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200980120016.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top