[实用新型]电磁材料屏蔽性能测试装置无效
| 申请号： | 200920315696.1 | 申请日： | 2009-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN201548641U | 公开（公告）日： | 2010-08-11 |
| 发明（设计）人： | 李少甫;王忠;杨文彬;蔡文新;董发勤;陈晓燕;潘建 | 申请（专利权）人： | 西南科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 詹永斌;吴彦峰 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型为电磁材料屏蔽性能测试装置，涉及一种测试装置。目的是提供一种结构简单且易于拆卸更换，屏蔽性能好的电磁材料屏蔽性能测试装置。技术方案：包括外壳和位于外壳内部的连接测试装置，连接测试装置包括位于两侧的两个微波钉销，微波钉销的外侧分别与外部检测装置连接，中部为两根圆柱连接头，圆柱连接头的外侧一端分别与微波钉销的内侧一端可拆卸连接，两根圆柱连接头的内侧一端接触连接，两个环状的支撑片分别套接在微波钉销上，支撑片的外壁套接在外壳的内壁上，两根圆柱连接头连接部位的外壳内壁上向壁内凹陷形成一个测试空腔，环状的测试材料套接在圆柱连接头上且测试材料置于测试空腔内。主要用于电磁材料的电磁特性参数测试。 | ||
| 搜索关键词： | 电磁 材料 屏蔽 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
电磁材料屏蔽性能测试装置，包括中空的外壳(1)和位于外壳(1)内部中空部分的连接测试装置，其特征在于所述连接测试装置包括位于两侧的两个微波钉销(2)，每个微波钉销(2)的外侧分别与外部检测装置连接，中部为两根圆柱连接头(3)，每根圆柱连接头(3)的外侧一端分别与微波钉销(2)的内侧一端可拆卸连接，两根圆柱连接头(3)的内侧一端接触连接，两个环状的支撑片(4)分别套接在微波钉销(2)上，支撑片(4)的外壁套接在外壳(1)的内壁上，两根圆柱连接头(3)连接部位的外壳(1)内壁上向壁内凹陷形成一个测试空腔(5)，环状的测试材料(6)套接在圆柱连接头(3)上且测试材料(6)置于测试空腔(5)内。
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