[实用新型]电磁材料屏蔽性能测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，特别是涉及一种用于电磁材料屏蔽性能测试的测试装置。

背景技术

现有技术当中的电磁材料测试装置是圆柱形和矩形结构，体积较大，采用法兰连接，不具有定位结构，在操作测试时直接将测试材料放入测试腔体中，这样容易在法兰对齐时因材料移动错位而影响测试结果的可靠性和稳定性，并且使得屏蔽性能下降。另外，现有技术当中的测试装置不易操作，不易更换易损耗部件，测试带宽也较窄。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种结构简单且易于拆卸更换，屏蔽性能好的电磁材料屏蔽性能测试装置。

本实用新型的目的是通过下列技术方案实现的：电磁材料屏蔽性能测试装置，包括中空的外壳和位于外壳内部中空部分的连接测试装置，所述连接测试装置包括位于两侧的两个微波钉销，每个微波钉销的外侧分别与外部检测装置连接，中部为两根圆柱连接头，每根圆柱连接头的外侧一端分别与微波钉销的内侧一端可拆卸连接，两根圆柱连接头的内侧一端接触连接，两个环状的支撑片分别套接在微波钉销上，支撑片的外壁套接在外壳的内壁上，两根圆柱连接头连接部位的外壳内壁上向壁内凹陷形成一个测试空腔，环状的测试材料套接在圆柱连接头上且测试材料置于测试空腔内。

所述两根圆柱连接头的连接部位为凹凸连接，其中一根圆柱连接头的端部为凸出结构，另一根圆柱连接头的端部为与凸出结构形状匹配的凹陷结构。

所述测试空腔内还设置有一个形状和测试材料相同的垫片，测试材料和垫片一起完全填充满测试空腔，测试材料和垫片分别套接在两根圆柱连接头的端部。

所述垫片和支撑片为聚四氟乙烯材料。

所述外壳为左右对称的两部分可拆卸连接而成，每一部分包括一个套环、一个与套环的一端可拆卸连接的微波连接环和一个可将微波连接环的另一端与外部装置连接的连接螺母，其中两个套环连接的部位向外侧弯曲。

所述两个套环向外弯曲的部位上对应设置有用于将两个套环可拆卸连接的安装孔。

所述安装孔包括销孔和螺栓孔，其中螺栓孔包括大孔端和小孔端，螺栓可从大孔端放入后滑到小孔端并可在小孔端进行固定。

从本实用新型的结构特征可以看出，本实用新型的优点在于：1、本实用新型采用了套环的结构，可拆卸连接在装置内部，对于易损耗部件来说，更换方便；2、本实用新型采用了低损耗的聚四氟乙烯制作的垫片来定位测试材料和支撑测试材料；3、本实用新型的套环与套环之间采用的凹凸连接方式，既具有信号传输的功能，也具有对测试材料和垫片的定位功能；4、本实用新型的外壳采用销钉和螺栓双重固定方式，先用销钉固定位置，然后将螺栓从安装孔的大孔端滑入到小孔端进行拧紧，固定更为准确稳定且起到了有效防止电磁波泄露的作用；5、本实用新型结构简单，易于加工且便于拆卸，可随时清洗，操作方便，测试带宽比现有技术的测试装置要宽。

附图说明

本实用新型将通过实施例并参照附图的方式说明，其中：

图1是本实用新型的结构剖视示意图

图2为本实用新型的外壳连接部位的剖视示意图

其中附图标记 1是外壳        2是微波钉销    3是圆柱连接头

4是支撑片    5是测试空腔    6是测试材料    7是垫片

8是套环      9是微波连接环  10是连接螺母   11是销孔

12是螺栓孔   13是螺栓

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步的说明：

优选实施例

如图1和图2所示的电磁材料屏蔽性能测试装置，包括中空的外壳1和位于外壳1内部中空部分的连接测试装置，所述连接测试装置包括位于两侧的两个微波钉销2，每个微波钉销2的外侧分别与外部检测装置连接，中部为两根圆柱连接头3，每根圆柱连接头3的外侧一端分别与微波钉销2的内侧一端可拆卸连接，两根圆柱连接头3的内侧一端接触连接，两个环状的支撑片4分别套接在微波钉销2上，支撑片4的外壁套接在外壳1的内壁上，两根圆柱连接头3连接部位的外壳1内壁上向壁内凹陷形成一个测试空腔5，环状的测试材料6套接在圆柱连接头3上且测试材料6置于测试空腔5内。

所述两根圆柱连接头3的连接部位为凹凸连接，其中一根圆柱连接头3的端部为凸出结构，另一根圆柱连接头3的端部为与凸出结构形状匹配的凹陷结构。

所述测试空腔5内还设置有一个形状和测试材料6相同的垫片7，测试材料6和垫片7一起完全填充满测试空腔5，测试材料6和垫片7分别套接在两根圆柱连接头3的端部。

所述垫片7和支撑片4为聚四氟乙烯材料。