[实用新型]一种基于阵列检测器的双光束探测系统有效

专利信息
申请号: 200920222316.X 申请日: 2009-09-01
公开(公告)号: CN201540159U 公开(公告)日: 2010-08-04
发明(设计)人: 金霞;丁志田 申请(专利权)人: 北京普析通用仪器有限责任公司
主分类号: G01J3/02 分类号: G01J3/02
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 龚燮英
地址: 101200*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于阵列检测器的双光束探测系统,属于光谱分析仪器领域,它解决了现有的单光束阵列光谱仪存在的稳定性较差的问题。本实用新型的分光系统用于将部分输入光作为样品光进行分光,并将按波长排列的阵列光谱输出给阵列检测器;入射光纤用于直接耦合部分输入光作为参比光输出给阵列检测器;阵列检测器根据其阵列特性将像元分区,用于同时接收阵列样品光谱、参比光及暗电流等信号,再经过电器系统的处理实现双光束阵列检测系统。本实用新型的系统实现简单,不会增加仪器的成本,只使用一个检测器还能够避免由不同检测器差异给系统带来的误差。
搜索关键词: 一种 基于 阵列 检测器 光束 探测 系统
【主权项】:
一种基于阵列检测器的双光束探测系统,其特征在于它包括:分光系统(1),用于将部分输入光作为样品光进行分光,并将按波长排列的阵列光谱输出给阵列检测器(3);入射光纤(2),用于直接耦合部分输入光作为参比光输出给阵列检测器(3);阵列检测器(3),根据其阵列特性将像元分区,用于同时接收阵列样品光谱、参比光及暗电流信号。
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