[实用新型]一种基于阵列检测器的双光束探测系统

权利要求书

1.一种基于阵列检测器的双光束探测系统，其特征在于它包括：

分光系统(1)，用于将部分输入光作为样品光进行分光，并将按波长排列的阵列光谱输出给阵列检测器(3)；

入射光纤(2)，用于直接耦合部分输入光作为参比光输出给阵列检测器(3)；

阵列检测器(3)，根据其阵列特性将像元分区，用于同时接收阵列样品光谱、参比光及暗电流信号。

2.根据权利要求1所述的一种基于阵列检测器的双光束探测系统，其特征在于所述分光系统(1)为平场凹面光栅系统或平面光栅系统。

3.根据权利要求1所述的一种基于阵列检测器的双光束探测系统，其特征在于所述阵列检测器(3)为具有N个像素的二极管阵列检测器或CCD阵列检测器，且像素长度满足同时接收阵列样品光谱、参比光与暗电流信号。