[实用新型]非对称双光路IC芯片引脚共面性检测仪

摘要

本实用新型公开了一种非对称双光路IC芯片引脚共面性检测仪，包括光学图像采集系统、自动识别软件系统、芯片进料定位机构、光路切换机构和电机控制机构的机电控制系统，机电控制系统分别与光学图像采集系统和自动识别软件系统连接，在芯片进料定位机构的左右两边对称设置有照明光源箱、三片聚光镜、光阑和左、右半反半透镜，其特征是：光路切换机构设置在主支撑架上，光学图像采集系统的光路传递为左右非对称的双光路传递结构，该传递结构主要由左、右直角棱镜、中间直角棱镜、中间半反半透镜和连接架组成。优点是：结构新颖、成本较低、检测速度较快，性能可靠。

主权项

非对称双光路IC芯片引脚共面性检测仪，由机电控制系统、光学图像采集系统和自动识别系统组成，其中机电控制系统包括芯片进料定位机构、光路切换机构和电机控制机构，机电控制系统分别与光学图像采集系统和自动识别系统连接，在芯片进料定位机构的左右两边对称设置有照明光源箱(6)、三片聚光镜(7)、光阑(8)和左、右半反半透镜(9 1，9 2)，其特征是：光路切换机构设置在主支撑架(10)上，光学图像采集系统的光路传递为左右非对称的双光路传递结构，该传递结构主要由左、右直角棱镜(16 1，16 2)、中间直角棱镜(13)、中间半反半透镜(12)和连接架(18)组成，连接架(18)设置在定位珠(5)的上方，其左右两端分别与主支撑架(10)连接，其中部左边开口的凹槽中设置中间直角棱镜(13)，该棱镜上方的连接架(18)上设置有反光面与其对应的中间半反半透镜(12)，左边的主支撑架(10)上设置有反光面与其对应的左直角棱镜(16 1)，右边的主支撑架顶端设有反光面与中间半反半透镜(12)对应的右直角棱镜(16 2)，左直角棱镜(16 1)与半反半透镜(9 1)之间、右直角棱镜(16 2)与半反半透镜(9 2)之间和中间半反半透镜(12)与中间直角棱镜(13)之间的连接架(18)上分别设有左、右和上光路通孔(26 1，26 2，26 3)。