[实用新型]非对称双光路IC芯片引脚共面性检测仪

权利要求书

1.非对称双光路IC芯片引脚共面性检测仪，由机电控制系统、光学图像采集系统和自动识别系统组成，其中机电控制系统包括芯片进料定位机构、光路切换机构和电机控制机构，机电控制系统分别与光学图像采集系统和自动识别系统连接，在芯片进料定位机构的左右两边对称设置有照明光源箱(6)、三片聚光镜(7)、光阑(8)和左、右半反半透镜(9-1，9-2)，其特征是：光路切换机构设置在主支撑架(10)上，光学图像采集系统的光路传递为左右非对称的双光路传递结构，该传递结构主要由左、右直角棱镜(16-1，16-2)、中间直角棱镜(13)、中间半反半透镜(12)和连接架(18)组成，连接架(18)设置在定位珠(5)的上方，其左右两端分别与主支撑架(10)连接，其中部左边开口的凹槽中设置中间直角棱镜(13)，该棱镜上方的连接架(18)上设置有反光面与其对应的中间半反半透镜(12)，左边的主支撑架(10)上设置有反光面与其对应的左直角棱镜(16-1)，右边的主支撑架顶端设有反光面与中间半反半透镜(12)对应的右直角棱镜(16-2)，左直角棱镜(16-1)与半反半透镜(9-1)之间、右直角棱镜(16-2)与半反半透镜(9-2)之间和中间半反半透镜(12)与中间直角棱镜(13)之间的连接架(18)上分别设有左、右和上光路通孔(26-1，26-2，26-3)。

2.根据权利要求1所述的非对称双光路IC芯片引脚共面性检测仪，其特征是：所述的光路切换机构由左、右电磁铁(14-1，14-2)和与其配装的挡光板(15-1，15-2)组成，左、右电磁铁(14-1，14-2)分别设置在左直角棱镜(16-1)与左光路通孔(26-1)、右直角棱镜(16-2)与右光路通孔(26-2)之间。

3.根据权利要求1所述的非对称双光路IC芯片引脚共面性检测仪，其特征是：所述的电机控制机构主要由直线电机(20)、芯片推杆(21)、压杆(22)、左方与右方限位器(23)和电机支撑架(24)组成，直线电机(20)输出轴两端分别与芯片推杆(21)和压杆(22)螺接，该电机设置在电机支撑架(24)中部，该支撑架两端分别与安装底板(25)和芯片支撑架(1)固接，限位器(23)固装在安装底板(25)上，其位置和高度与压杆(22)相配合。

4.根据权利要求1所述的非对称双光路IC芯片引脚共面性检测仪，其特征是：所述的左、右直角棱镜(16-1，16-2)和中间半反半透镜(12)分别配装在左、右直角棱镜座(17-1，17-2)和半反半透镜支架(11)上。