[实用新型]存储器测试制具无效
申请号: | 200920069940.0 | 申请日: | 2009-04-03 |
公开(公告)号: | CN201436662U | 公开(公告)日: | 2010-04-07 |
发明(设计)人: | 胡烨德;陈志丰 | 申请(专利权)人: | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56;H01R31/06;H01R27/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈亮 |
地址: | 201114 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种存储器测试制具,适用于具有一存储器插槽的一主板,此存储器测试制具包括连接件及载板。连接件具有第一插槽及第一焊指部,其中第一插槽电性连接第一焊指部。第一插槽插设待测存储器,以及第一焊指部插入存储器插槽以电性连接主板及待测存储器。载板配置有多个可调电阻,并且载板连接连接件以使各可调电阻分别电性连接于第一插槽与第一焊指部之间,其中各可调电阻分别调整待测存储器的参考电压及工作电压。 | ||
搜索关键词: | 存储器 测试 | ||
【主权项】:
一种存储器测试制具,适用于具有一存储器插槽的一主板,其特征在于包括:一连接件,具有一第一插槽及一第一焊指部,其中该第一插槽电性连接该第一焊指部,并且该第一插槽插设一待测存储器,以及该第一焊指部插入该存储器插槽以电性连接该主板及该待测存储器;以及一载板,配置有多个可调电阻,并且该载板连接该连接件以使该些可调电阻分别电性连接于该第一插槽与该第一焊指部之间,其中各该些可调电阻分别调整该待测存储器的一参考电压及一工作电压。
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