[实用新型]存储器测试制具无效
申请号: | 200920069940.0 | 申请日: | 2009-04-03 |
公开(公告)号: | CN201436662U | 公开(公告)日: | 2010-04-07 |
发明(设计)人: | 胡烨德;陈志丰 | 申请(专利权)人: | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56;H01R31/06;H01R27/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陈亮 |
地址: | 201114 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储器 测试 | ||
1.一种存储器测试制具,适用于具有一存储器插槽的一主板,其特征在于包括:
一连接件,具有一第一插槽及一第一焊指部,其中该第一插槽电性连接该第一焊指部,并且该第一插槽插设一待测存储器,以及该第一焊指部插入该存储器插槽以电性连接该主板及该待测存储器;以及
一载板,配置有多个可调电阻,并且该载板连接该连接件以使该些可调电阻分别电性连接于该第一插槽与该第一焊指部之间,其中各该些可调电阻分别调整该待测存储器的一参考电压及一工作电压。
2.根据权利要求1所述的存储器测试制具,其特征在于其中该连接件具有一第二插槽,并且该载板具有一第二焊指部,其中该第二焊指部插入该第二插槽以连接该连接件及该载板。
3.根据权利要求1所述的存储器测试制具,其特征在于其中该连接件具有一第一连接端口,并且该载板具有一第二连接端口,其中该第一连接端口连接该第二连接端口以连接该连接件及该载板。
4.根据权利要求3所述的存储器测试制具,其特征在于其中该第一连接端口透过一排线连接该第二连接端口。
5.根据权利要求1所述的存储器测试制具,其特征在于其中该第一插槽与该存储器插槽具有相同的结构。
6.根据权利要求5所述的存储器测试制具,其特征在于其中该第一插槽与该存储器插槽为一双列直插式存储器组件插槽。
7.根据权利要求1所述的存储器测试制具,其特征在于其中该载板为一印刷电路板。
8.根据权利要求1所述的存储器测试制具,其特征在于其中该待测存储器为一第三代双数据速率存储器。
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