[实用新型]存储器测试制具无效

专利信息
申请号: 200920069940.0 申请日: 2009-04-03
公开(公告)号: CN201436662U 公开(公告)日: 2010-04-07
发明(设计)人: 胡烨德;陈志丰 申请(专利权)人: 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56;H01R31/06;H01R27/02
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈亮
地址: 201114 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 存储器 测试
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种测试制具,特别是涉及一种调整存储器参考电压及工作电压的存储器测试制具。

背景技术

在现今科技发达的年代,无可避免地,计算机系统已成为人们生活上不可或缺的信息处理工具。计算机系统能满足人们在工作、旅行与娱乐各方面的全部需求,譬如个人的财务明细、金融帐号密码、隐私文件和照片、感情信件、商业文件以及智能创作等数据,都可储存在计算机系统中。在计算机系统中,中央处理器会透过存储器取得指令及数据以进行运算,并且将运算的结果储存在存储器中,因此存储器为计算机系统运行时不可或缺的组件。

依据上述,若存储器于计算机系统运行时发生错误或故障,亦会造成计算机系统发生意外(例如当机或重开机)。所以,存储器能否在计算机系统运行时稳定的运作,影响着计算机系统运行的稳定度。因此,在着重稳定度的计算机系统中(例如服务器),除了会对整个计算机系统(包括中央处理器及存储器)进行长时间运行的测试,同时会调整存储器的参考电压及工作电压并进行计算机系统的运行,以测试所使用的存储器是否在可容许的电压变动范围内能稳定的运作。而调整存储器的参考电压及工作电压,则先将可调电阻的接脚透过导线焊接于主板上对应的脚位,经由可调电阻调整存储器的参考电压及工作电压。而此焊接所引起的高温可能影响到主板上的芯片,并且由于使用的可调电阻较多,并且可调电阻具有较多接脚,会使得由主板焊接出来的导线会较为紊乱,很不美观并且不易辨识可调电阻接脚所对应的脚位。

实用新型内容

本实用新型提供一种存储器测试制具,可以在不更动主板电路的情况下,调整存储器的参考电压及工作电压,以对存储器进行测试。

本实用新型提出一种存储器测试制具,适用于具有一存储器插槽的一主板,存储器测试制具包括连接件及载板。连接件具有第一插槽及第一焊指部,其中第一插槽电性连接第一焊指部。第一插槽插设待测存储器,以及第一焊指部插入存储器插槽以电性连接主板及待测存储器。载板配置有多个可调电阻,并且载板连接连接件以使各可调电阻分别电性连接于第一插槽与第一焊指部之间,其中各可调电阻分别调整待测存储器的参考电压及工作电压。

在本实用新型的一实施例中,此连接件具有第二插槽,并且载板具有第二焊指部,其中第二焊指部插入第二插槽以连接此连接件及载板。

在本实用新型的一实施例中,此连接件具有第一连接端口,并且载板具有第二连接端口,其中第一连接端口连接第二连接端口以连接连接件及载板。

在本实用新型的一实施例中,此第一连接端口透过排线连接第二连接端口。

在本实用新型的一实施例中,此第一插槽与存储器插槽具有相同的结构,并且第一插槽与存储器插槽为双列直插式存储器组件插槽。

在本实用新型的一实施例中,此载板为印刷电路板。

在本实用新型的一实施例中,此待测存储器为第三代双数据速率存储器。

综合以上所述,本实用新型的存储器测试制具,通过连接件电性连接待测存储器及主板,并且连接件连接载板以使载板上的可调电阻电性连接于待测存储器与主板之间。藉此,可不更动主板电路即可调整存储器的参考电压及工作电压,以对待测存储器进行测试。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述,为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段,并可依照说明书的内容予以实施,以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。

附图说明

图1为本实用新型一实施例的存储器测试制具的结构示意图。

图2为本实用新型另一实施例的存储器测试制具的结构示意图。

图3为本实用新型又一实施例的存储器测试制具的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图及较佳实施例,对依据本实用新型提出的存储器测试制具其特征及其功效,详细说明如后。

图1为本实用新型一实施例的存储器测试制具的结构示意图。请参照图1,在本实施例中,存储器测试制具100包括连接件110及载板120,其中载板110例如为印刷电路板。连接件110具有第一插槽111、第一焊指部112及第一连接端口113,其中第一插槽111、第一焊指部112及第一连接端口113彼此电性连接,并且第一焊指部112为一金手指。第一插槽111用以插设待测存储器20,第一焊指部112插入主板10上的存储器插槽11以电性连接主板10及待测存储器20,其中第一插槽111与存储器插槽11例如为存储器插槽并且为双列直插式存储器组件插槽,并且待测存储器20例如为第三代双数据速率存储器。

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