[实用新型]晶体振荡器综合测试设备有效
| 申请号： | 200920059663.5 | 申请日： | 2009-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN201429673Y | 公开（公告）日： | 2010-03-24 |
| 发明（设计）人： | 叶碧波;孙心华;李健;孙利军;李晓云;刘桂华 | 申请（专利权）人： | 广州市天马电讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 江门嘉权专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 谭志强 |
| 地址： | 510630广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种晶体振荡器综合测试设备。包括机箱，所述机箱内安装有主控MCU模块和有源晶振接口模块，所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接有多个检测单元，所述主控MCU模块还连接有操控单元和数据显示单元。本实用新型将晶体振荡器各类检测装置集成为一体，使之模块化，减少了繁琐的连线；由微处理器控制各检测单元对晶体振荡器进行检测，省去了繁琐的人工操作，可自动完成多个项目的检测，也可以对其中某个单项进行检测，并由主控MCU模块进行数据分析，通过LED屏将检测结果显示出来，可方便的判断产品是否合格，极大的提高工作效率和测量数据的准确性，减少了检测时的人为干扰。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体振荡器 综合测试 设备 | ||
【主权项】：
1、一种晶体振荡器综合测试设备，其特征在于：包括机箱，所述机箱内安装有主控MCU模块和有源晶振接口模块，所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接有多个检测单元，所述主控MCU模块还连接有操控单元和数据显示单元。
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