[实用新型]晶体振荡器综合测试设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试设备，特别是一种用于恒温晶体振荡器及数字温补晶体振荡器等高精度时钟源的检测设备。

背景技术

晶体振荡器被广泛应用到军、民用通信电台、微波通信设备、程控交换机，移动电话发射台，高档测试设备、GPS、卫星通信、遥控移动等设备上，作为这些设备的基准参考频率源。因此，晶体振荡器本身的精度要求极高，为保证其精度，对晶体振荡器检测手段的要求也极为严格。但是，目前晶体振荡器在进行特性参数测试及性能检测时，要使用到如可调电源、万用表、示波器、频率计及压控电压发生器等诸多设备，需要人进行繁琐的操作及连接大量的电缆，并需要对检测到的数据进行人工记录、分析和整理；特别是，对于高于5MHz输出频率范围的晶体振荡器来说，大量的设备、连线和过多的人工操作会对检测结果造成影响，从而导致测量结果不准确、测量效率低及人为因素干扰多等缺点。

实用新型内容

为了解决上述的问题，本实用新型的目的在于提供一种检测准确度高、测量效率高、且人为干扰少的晶体振荡器综合测试设备。

本实用新型解决其问题所采用的技术方案是：

一种晶体振荡器综合测试设备，包括机箱，所述机箱内安装有主控MCU模块和有源晶振接口模块，所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接有多个检测单元，所述主控MCU模块还连接有操控单元和数据显示单元。

作为上述技术方案的改进，所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接有频率检测单元。

作为上述技术方案的进一步改进，所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接有占空比检测单元。

作为上述技术方案的进一步改进，所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接有峰值检测单元。

作为上述技术方案的进一步改进，所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接有电压产生及测量单元。

作为上述技术方案的进一步改进，所述主控MCU模块与电压产生及测量单元之间连接有工作电流检测单元。

作为上述技术方案的进一步改进，所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接有压控电压产生及测量单元。

作为上述技术方案的进一步改进，所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接有输出负载产生单元。

作为上述技术方案的进一步改进，所述检测单元包括频率检测单元、占空比检测单元、峰值检测单元、电压产生及测量单元、压控电压产生及测量单元及输出负载产生单元，所述主控MCU模块与电压产生及测量单元之间连接有工作电流检测单元。

作为上述技术方案的进一步改进，所述操控单元为键盘。

本实用新型的有益效果是：本实用新型将晶体振荡器各类检测装置集成为一体，使之模块化，减少了繁琐的连线；由微处理器控制各检测单元对晶体振荡器进行检测，省去了繁琐的人工操作，可自动完成多个项目的检测，如对频率开机特性、频率压控特性、频率负载特性、电源特性、频率准确度、波形占空比、波形峰峰值、开机电流及工作电流等敏感参数的检测，也可以对其中某个单项参数进行检测，并由主控MCU模块进行数据分析，通过LED屏将检测结果显示出来，可方便的判断产品是否合格，极大的提高工作效率和测量数据的准确性，减少了检测时的人为干扰。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明：

图1是本实用新型的功能架构框图；

图2是本实用新型的占空比检测电路原理图；

图3是本实用新型的峰值检测电路原理图；

图4是本实用新型的电压产生及测量电路原理图；

图5是本实用新型的工作电流检测电路原理图。

具体实施方式

参照图1、一种晶体振荡器综合测试设备，包括机箱，所述机箱内安装有主控MCU模块和有源晶振接口模块，所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接有多个检测单元，所述主控MCU模块还连接有操控单元和数据显示单元，所述的主控MCU模块使用含有DAC和ADC及通用UART的ARM7芯片。

作为优选实施方式，所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接有频率测量单元、占空比测试单元、峰值检测单元、电压产生及测量单元、压控电压产生及测量单元及输出负载产生单元，所述主控MCU模块与电压产生及测量单元之间连接有工作电流检测单元。当然，本实用新型检测单元也可以仅包括其中一种检测单元，作为单一检测仪器使用。