[实用新型]晶体振荡器综合测试设备有效
| 申请号： | 200920059663.5 | 申请日： | 2009-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN201429673Y | 公开（公告）日： | 2010-03-24 |
| 发明（设计）人： | 叶碧波;孙心华;李健;孙利军;李晓云;刘桂华 | 申请（专利权）人： | 广州市天马电讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 江门嘉权专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 谭志强 |
| 地址： | 510630广东省广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 晶体振荡器 综合测试 设备 | ||
1、一种晶体振荡器综合测试设备，其特征在于：包括机箱，所述机箱内安装有主控MCU模块和有源晶振接口模块，所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接有多个检测单元，所述主控MCU模块还连接有操控单元和数据显示单元。
2、根据权利要求1所述的晶体振荡器综合测试设备，其特征在于：所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接的检测单元包括有频率检测单元。
3、根据权利要求1所述的晶体振荡器综合测试设备，其特征在于：所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接的检测单元包括有占空比检测单元。
4、根据权利要求1所述的晶体振荡器综合测试设备，其特征在于：所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接的检测单元包括有峰值检测单元。
5、根据权利要求1所述的晶体振荡器综合测试设备，其特征在于：所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接的检测单元包括有电压产生及测量单元。
6、根据权利要求5所述的晶体振荡器综合测试设备，其特征在于：所述主控MCU模块与电压产生及测量单元之间连接有工作电流检测单元。
7、根据权利要求1所述的晶体振荡器综合测试设备，其特征在于：所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接的检测单元包括有压控电压产生及测量单元。
8、根据权利要求1所述的晶体振荡器综合测试设备，其特征在于：所述主控MCU模块与有源晶振接口模块之间连接的检测单元包括有输出负载产生单元。
9、根据权利要求1所述的晶体振荡器综合测试设备，其特征在于：所述检测单元包括频率检测单元、占空比检测单元、峰值检测单元、电压产生及测量单元、压控电压产生及测量单元及输出负载产生单元，所述主控MCU模块与电压产生及测量单元之间连接有工作电流检测单元。
10、根据权利要求1所述的晶体振荡器综合测试设备，其特征在于：所述操控单元为键盘。
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