[发明专利]可编程集成电路自动测试及归类系统无效
申请号: | 200910224082.7 | 申请日: | 2009-12-04 |
公开(公告)号: | CN101706540A | 公开(公告)日: | 2010-05-12 |
发明(设计)人: | 张伟功;尚媛园;丁瑞;朱晓燕;朱虹;关永;徐达维;杨新华 | 申请(专利权)人: | 首都师范大学 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;B07C5/344 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100048*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 可编程集成电路自动测试及归类系统,由上下位机组成,其中上位机包括一台PC机,该PC机用于执行测试的启停、为用户提供编辑测试模板的操作界面、监控系统工作状况以及显示、分析、保存器件测试返回参数;下位机包括测试仪,测试仪上搭载若干块通道板,每块通道板的输出引脚通过机械臂连接到待测集成电路的一个引脚上,该机械臂用于抓取和固定待测集成电路并按照归类结果将器件投入指定的盒子中;上位机通过串口将按照协议编辑好的测试模板下载到测试仪,该测试仪在收到测试模板后依据协议解析出原子操作序列和归类条件序列以指导测试。该系统能够通过灵活编程而适用于各种集成电路的测试和分类,在降低测试成本的同时极大地提高了测试效率。 | ||
搜索关键词: | 可编程 集成电路 自动 测试 归类 系统 | ||
【主权项】:
一种可编程集成电路自动测试及归类系统,该系统由上下位机组成,其中上位机用于执行测试的启停、为用户提供编辑测试模板的操作界面、监控系统工作状况以及显示、分析、保存器件测试返回参数;下位机包括测试仪,测试仪上搭载若干块通道板,每块通道板的输出引脚通过机械臂连接到待测集成电路的一个引脚上,该机械臂用于抓取和固定待测集成电路并按照归类结果将器件投入指定的盒子中;上位机通过通信端口将按照协议编辑好的测试模板下载到测试仪,该测试仪在收到测试模板后依据协议解析出原子操作序列和归类条件序列以指导测试;所述原子操作为测试过程中使用到的最小操作集合,每种原子操作的数据结构至少包括完全相同的三个域,分别是原子操作类型码域、通道板索引域和归类条件个数域,其中原子操作类型码域用来标识自身的操作类型,通道板索引域用来标识需要哪块通道板来执行该原子操作,归类条件个数域用来标识该原子操作所携带的归类条件的个数;每个归类条件包括下限值数据域、上限值数据域和盒子掩码数据域,其中盒子掩码用于指定一个盒子掩码值,当经过测量得到的参数在下限值数据域和上限值数据域之间时,则认为该原子操作满足该归类条件,将该盒子掩码值赋予该原子操作;当针对一个集成电路执行多个原子操作时,将得到多个参数,根据每一个参数在相应的归类条件中的匹配情况,每个原子操作均能得到一个盒子掩码值,将这些盒子掩码值全部按位求与,进而得到满足所有归类条件的盒子编号,并将该待测集成电路放入对应的盒子中。
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