[发明专利]可编程集成电路自动测试及归类系统无效
申请号: | 200910224082.7 | 申请日: | 2009-12-04 |
公开(公告)号: | CN101706540A | 公开(公告)日: | 2010-05-12 |
发明(设计)人: | 张伟功;尚媛园;丁瑞;朱晓燕;朱虹;关永;徐达维;杨新华 | 申请(专利权)人: | 首都师范大学 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;B07C5/344 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100048*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 可编程 集成电路 自动 测试 归类 系统 | ||
1.一种可编程集成电路自动测试及归类系统,该系统由上下位机组成,其中上位 机用于执行测试的启停、为用户提供编辑测试模板的操作界面、监控系统工作状况以 及显示、分析、保存待测集成电路测试返回参数;下位机包括测试仪,测试仪上搭载 若干块通道板,每块通道板的输出引脚通过机械臂连接到待测集成电路的一个引脚 上,该机械臂用于抓取和固定待测集成电路并按照归类结果将待测集成电路投入指定 的盒子中;上位机通过通信端口将按照协议编辑好的测试模板下载到测试仪,该测试 仪在收到测试模板后依据协议解析出原子操作序列和归类条件序列以指导测试;所述 原子操作为测试过程中使用到的最小操作集合,每种原子操作的数据结构至少包括完 全相同的三个域,分别是原子操作类型码域、通道板索引域和归类条件个数域,其中 原子操作类型码域用来标识自身的操作类型,通道板索引域用来标识需要哪块通道板 来执行该原子操作,归类条件个数域用来标识该原子操作所携带的归类条件的个数; 每个归类条件包括下限值数据域、上限值数据域和盒子掩码数据域,其中盒子掩码用 于指定一个盒子掩码值,当经过测量得到的参数在下限值数据域和上限值数据域之间 时,则认为该原子操作满足该归类条件,将该盒子掩码值赋予该原子操作;当针对一 个集成电路执行多个原子操作时,将得到多个参数,根据每一个参数在相应的归类条 件中的匹配情况,每个原子操作均能得到一个盒子掩码值,将这些盒子掩码值全部按 位求与,进而得到满足所有归类条件的盒子编号,并将该待测集成电路放入对应的盒 子中。
2.根据权利要求1所述的可编程集成电路自动测试及归类系统,其特征在于: 所述原子操作包括(1)恒压输出操作、(2)恒流输出操作、(3)恒定磁场输出操作、 (4)延时操作、(5)电流测量操作、(6)电压测量操作、(7)周期测量操作、(8) 开启磁场测量操作和(9)关闭磁场测量操作。
3.根据权利要求2所述的可编程集成电路自动测试及归类系统,其特征在于: 所述编号为(5)~(9)的这5种原子操作能够产生参数,用户能够为这类原子操作 分别配置若干个归类条件,其中每个原子操作携带的归类条件个数由对应数据结构中 的归类条件个数域决定。
4.根据权利要求2或3所述的可编程集成电路自动测试及归类系统,其特征在 于:由亥姆霍兹线圈为测试提供稳定的磁场,该磁场通过磁场校正表进行校正。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的可编程集成电路自动测试及归类系统, 其特征在于:所述通道板包括放大电路、反馈模式选择开关和测量电路。
6.根据权利要求1至3中任一项所述的可编程集成电路自动测试及归类系统, 其特征在于:所述选择开关采用三极管的截止和饱和状态完成电子开关的功能。
7.根据权利要求1至3中任一项所述的可编程集成电路自动测试及归类系统, 其特征在于:所述集成电路为霍尔器件。
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