[发明专利]可编程集成电路自动测试及归类系统

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路自动测试及归类系统，尤其涉及可编程霍尔器件自动测试及 归类系统，适用于集成电路生产厂家，将它安装在集成电路生产流水线上可对器件进 行自动测试并分类包装。

背景技术

每片集成电路在出厂前需要对指定的参数进行检测以淘汰残次品，同时对合格产 品按照其性能指标进行分类。现有的集成电路测试仪通常只能按照固化好的程序测试 若干个固定的参数，所以随着新型集成电路的不断推出，生产厂家需要不断购入新的 集成电路测试仪以满足新的测试需求。同时这类仪器每一次测试往往只能完成对一个 或几个器件的测试，测完后需要操作员依据测试结果手动对器件进行归类并放置，这 样使得测试效率十分低下，同时人为引入的误差也就在所难免。

发明内容

本发明的可编程集成电路自动测试及归类系统旨在解决现有技术中存在的上述 问题，使得其通过支持用户自定义测试流程，能够不断适应新器件所提出的测试需求； 通过支持用户自定义分类规则，能够依据测试得到的结果自动对器件进行分类。

本发明的可编程集成电路自动测试及归类系统由上下位机组成，其中上位机用于 执行测试的启停、为用户提供编辑测试模板的操作界面、监控系统工作状况以及显示、 分析、保存器件测试返回参数；下位机包括测试仪，测试仪上搭载若干块通道板，每 块通道板的输出引脚通过机械臂连接到待测集成电路的一个引脚上，该机械臂用于抓 取和固定待测集成电路并按照归类结果将器件投入指定的盒子中；上位机通过通信端 口将按照协议编辑好的测试模板下载到测试仪，该测试仪在收到测试模板后依据协议 解析出原子操作序列和归类条件序列以指导测试；所述原子操作为测试过程中使用到 的最小操作集合，每种原子操作的数据结构具有完全相同的三个域，分别是原子操作 类型码域、通道板索引域和归类条件个数域，其中原子操作类型码域用来标识自身的 操作类型，通道板索引域用来标识需要哪块通道板来执行该原子操作，归类条件个数 域用来标识该原子操作所携带的归类条件的个数；每个归类条件包括下限值数据域、 上限值数据域和盒子掩码数据域，其中盒子掩码用于指定一个盒子掩码值，当经过测 量得到的参数在下限值数据域和上限值数据域之间时，则认为该原子操作满足该归类 条件，将该盒子掩码值赋予该原子操作；当针对一个集成电路执行多个原子操作时， 将得到多个参数，根据每一个参数在相应的归类条件中的匹配情况，每个原子操作均 能得到一个盒子掩码值，将这些盒子掩码值全部按位求与，进而得到满足所有归类条 件的盒子编号，并将该待测集成电路放入对应的盒子中。

其中，原子操作包括(1)恒压输出操作、(2)恒流输出操作、(3)恒定磁场输 出操作、(4)延时操作、(5)电流测量操作、(6)电压测量操作、(7)周期测量操作、 (8)开启磁场测量操作和(9)关闭磁场测量操作。

进一步地，编号为(5)～(9)这5种原子操作能够产生参数，用户能够为这类 原子操作分别配置若干个归类条件，其中每个原子操作携带的归类条件个数由对应数 据结构中的归类条件个数域决定。

其中，由亥姆霍兹线圈为测试提供稳定的磁场，该磁场通过磁场校正表进行校正。

另外，通道板包括放大电路、反馈模式选择开关和测量电路。

进一步地，选择开关采用三极管的截止和饱和状态完成电子开关的功能。

优选地，所述集成电路是霍尔器件。

采用上述结构的可编程集成电路自动测试及归类系统能够通过灵活编程而适用 于各种集成电路的测试和分类，在降低测试成本的同时极大地提高了测试效率。

附图说明

图1为本发明的可编程集成电路自动测试及归类系统的系统框图；

图2为本发明的可编程集成电路自动测试及归类系统的测试模板的结构图；

图3为本发明的可编程集成电路自动测试及归类系统的测试流程图；

图4为本发明的可编程集成电路自动测试及归类系统的通道板的设计原理框图；

图5为本发明的可编程集成电路自动测试及归类系统的通道板的电路原理图；

图6为本发明的可编程集成电路自动测试及归类系统的亥姆霍兹线圈驱动电路 原理框图；

图7为本发明的可编程集成电路自动测试及归类系统的亥姆霍兹线圈驱动电路 原理图；

图8为本发明的可编程集成电路自动测试及归类系统的电子开关原理图。