[发明专利]存储器测试方法及装置有效
| 申请号： | 200910211215.7 | 申请日： | 2009-11-02 |
| 公开（公告）号： | CN101692351A | 公开（公告）日： | 2010-04-07 |
| 发明（设计）人： | 谭斯乐 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/04 | 分类号： | G11C29/04 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 518129 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储器测试方法及装置，涉及存储测试领域，实现了对信号完整性问题的测试，使信号完整性存在的隐患暴露出来。本发明包括：按照内存地址递变的方式将第一测量向量值和所述第一测量向量值的翻转值交替写入存储器；依次从所述存储器读取数据，若从一内存地址读取的数据与写入所述内存地址的测量向量值不相等，则输出存储器出错的指示信息。本发明实施例主要用于存储器的测试过程中，还可以用于检测各类并行总线信号完整性的过程中。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种存储器测试方法，其特征在于，包括：按照内存地址递变的方式将第一测量向量值和所述第一测量向量值的翻转值交替写入存储器；依次从所述存储器读取数据，若从一内存地址读取的数据与写入所述内存地址的测量向量值不相等，则输出存储器出错的指示信息。
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