[发明专利]存储器测试方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及存储器领域，尤其涉及一种存储器测试方法及装置。

背景技术

随着处理器技术的不断进步，过去几年中大容量存储器件的设计和开 发呈指数级增长；而这些大容量存储器件重新设计的关键部件不是速度更 快的处理器，而是采用闪存取代了硬盘。这些装置的可靠性取决于存储器 的正确设计和测试。存储器测试的主要目标是验证存储器件上的每一个存 储位都能够可靠地储存数据。验证存储器件所需的关键测试包括验证物理 连接、检查存储器的每一位并描述器件特征。

常见的存储器测试方法有扫描图形法、跨步图形法、棋盘图形法、五步棋 盘法等等；方案较多，测试复杂度各有不同，但上述不同的存储器的测试方法 都聚焦在检测存储器的外围互连故障和内部单元故障，更多的考虑存储器内部 的各类逻辑错误和耦合错误类型。其中外围互连故障如开路、短路和逻辑故障 等而内部单元测试一般包括存储单元阵列故障、译码电路和读写逻辑故障等。

发明人发现现有技术至少存在如下问题：上述存储器的检测方法，虽然能 够检测到存储器的外围互连故障和内部单元故障，但是无法检测出硬件及PCB (Print Circuit Board)设计上存在的缺陷和隐患，即无法检测出大部分常见 的信号完整性缺陷或隐患，因为即使存储器内部单元全部正常，也有可能因为 信号完整性问题而导致器件不能可靠地完成每次读写操作。

发明内容

本发明的实施例提供一种存储器测试方法及装置，以检测出存储器的信号 完整性问题。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一方面，本发明的实施例提供了一种存储器测试方法，包括：

按照内存地址递变的方式将第一测量向量值和所述第一测量向量值的翻转 值交替写入存储器；

依次从所述存储器读取数据，若从一内存地址读取的数据与写入所述内存 地址的测量向量值不相等，则输出存储器出错的指示信息；

依次从所述存储器读取数据，若从一内存地址读取的数据与写入所述内存 地址的测量向量值相等，将所述读取的数据翻转得到的第二测量向量值写入所 述内存地址。

另一方面，本发明的实施例提供了一种存储器测试装置，包括：

写操作单元，用于按照内存地址递变的顺序将第一测量向量值和所述第一 测量向量值的翻转值交替写入存储器；

第一检测单元，用于依次从所述存储器读取数据，若从一内存地址读取的数 据与写入所述内存地址的测量向量值不相等，则输出存储器出错的指示信息；

第二检测单元，用于依次从所述存储器读取数据，若从一内存地址读取的 数据与写入所述内存地址的测量向量值相等，将所述读取的数据翻转得到的第 二测量向量值写入所述内存地址。

本发明技术方案中，将根据常见的信号完整性问题定义的两个测量向量， 按照相互交替的形式写入存储器，将数据存储过程中相邻地址的测试数据相互 取反，使存储器相邻的数据线频繁同向或异向跳变，再进行检测，从而能够发 现存储器的信号完整性问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施 例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述 中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付 出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例1中存储器测试方法的流程示意图；

图2为本发明实施例2中存储器测试方法的流程示意图；

图3为本发明实施例2中存储器测试方法中将测试向量值写入存储器的操 作流程示意图；

图4为本发明实施例2中按照内存地址递增的方式从所述存储器读取数据 的过程流程图；

图5为本发明实施例3中存储器测试装置的组成框图；

图6为本发明实施例4中存储器测试装置的组成框图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清 楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是 全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造 性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例1