[发明专利]存储器测试方法及装置

权利要求书

1.一种存储器测试方法，其特征在于，包括：

按照内存地址递变的方式将第一测量向量值和所述第一测量向量值的翻转 值交替写入存储器；

依次从所述存储器读取数据，若从一内存地址读取的数据与写入所述内存 地址的测量向量值不相等，则输出存储器出错的指示信息；

依次从所述存储器读取数据，若从一内存地址读取的数据与写入所述内存 地址的测量向量值相等，将所述读取的数据翻转得到的第二测量向量值写入所 述内存地址。

2.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述依次从所述 存储器读取数据，包括：

通过内存指针按照内存地址递增的方式从所述存储器的待测试地址空间的 低位地址端开始读取数据，直到所述内存指针指向所述待测试地址空间的高位 地址端；或

通过内存指针按照内存地址递减的方式从所述存储器的待测试地址空间的 高位地址端开始读取数据，直到所述内存指针指向所述待测试地址空间的低位 地址端。

3.根据权利要求2所述的存储器测试方法，其特征在于，所述将所述读取 的数据翻转，包括：将所述读取的数据的所有二进制比特位都取反。

4.根据权利要求1-3所述的任一存储器测试方法，其特征在于，所述方 法还包括：

读取全部待测试地址空间的数据，若从所述待测试地址空间中读取的数据 的顺序和内容与写入所述待测试地址空间的测量向量值的顺序和内容不相等， 则输出存储器出错的指示信息。

5.一种存储器测试装置，其特征在于，包括：

写操作单元，用于按照内存地址递变的顺序将第一测量向量值和所述第一 测量向量值的翻转值交替写入存储器；

第一检测单元，用于依次从所述存储器读取数据，若从一内存地址读取的数 据与写入所述内存地址的测量向量值不相等，则输出存储器出错的指示信息；

第二检测单元，用于依次从所述存储器读取数据，若从一内存地址读取的 数据与写入所述内存地址的测量向量值相等，将所述读取的数据翻转得到的第 二测量向量值写入所述内存地址。

6.根据权利要求5所述的存储器测试装置，其特征在于，所述第一检测单 元包括：

升序读操作模块，用于通过内存指针按照内存地址递增的方式从所述存储 器的待测试地址空间的低位地址端开始读取数据，直到所述内存指针指向所述 待测试地址空间的高位地址端；或

降序读操作模块，用于通过内存指针按照内存地址递减的方式从所处存储 器的待测试地址空间的高位地址端开始读取数据，直到所述内存指针指向所述 待测试地址空间的低位地址端。

7.根据权利要求6所述的存储器测试装置，其特征在于，所述第一检测 作单元将所述读取的数据翻转，包括：将所述读取的数据的所有二进制比特位 都取反。

8.根据权利要求5-7所述的任一存储器测试装置，其特征在于，所述装 置还包括：

第三检测单元，用于读取全部待测试地址空间的数据，若从所述待测试地 址空间中读取的数据的顺序和内容与写入所述待测试地址空间的测量向量值的 顺序和内容不相等，则输出存储器出错的指示信息。