[发明专利]半导体组件以及制造方法无效
| 申请号: | 200910206802.7 | 申请日: | 2009-10-21 |
| 公开(公告)号: | CN101740394A | 公开(公告)日: | 2010-06-16 |
| 发明(设计)人: | P·A·伯克;D·B·巴伯;B·普拉蒂 | 申请(专利权)人: | 半导体元件工业有限责任公司 |
| 主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/28;H01L29/78;H01L29/40 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 金晓 |
| 地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | 包括栅电极和屏蔽电极的半导体组件以及制造该半导体组件的方法。半导体材料具有器件区、栅极接触区、终止区和漏极接触区。在器件区中形成一个或多个器件沟槽并且在边缘终止区中形成一个或多个终止沟槽。在邻近它们的基底的器件沟槽的部分中形成屏蔽电极。在器件区中的沟槽的侧壁上形成栅极电介质材料,并且将栅电极形成在屏蔽电极之上并且与其电隔离。在器件区中的沟槽中的栅电极连接到在栅极接触区中的沟槽中的栅电极。在器件区中的沟槽中的屏蔽电极连接到在终止区中的屏蔽电极。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 组件 以及 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种用于制造半导体组件的方法,包含如下步骤:提供具有第一和第二主表面的半导体材料;在该半导体材料中形成多个沟槽,其中该多个沟槽中的第一沟槽具有至少一个侧壁;在该多个沟槽之上形成第一电介质材料层;在该多个沟槽中的第一沟槽的第一部分中形成第一多晶硅层;平坦化第一多晶硅层以在该多个沟槽中的第一沟槽的第一部分中形成第一多晶硅电极,所述第一多晶硅电极具有相对的侧面;使第一多晶硅电极凹进;在已经被凹进的第一多晶硅电极之上形成第二电介质材料层;在第二电介质材料层之上并且在已经被凹进的第一多晶硅电极之上形成第二多晶硅层;以及平坦化第二多晶硅层以在已经被凹进的第一多晶硅电极之上形成第二多晶硅电极,其中在第一主表面之上基本上没有多晶硅。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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