[发明专利]内存工作电压范围测量方法

摘要

本发明提供一种内存工作电压范围测量方法，包含：使一内存插设于一计算机。其中，计算机包含一重新开机接口。令一参考电压作为一工作电压，以提供给内存，并使计算机使用内存执行一内存测试程序。持续侦测计算机是否正常运作。在计算机执行完成内存测试程序时，将内存的工作电压记录为一先前电压。将工作电压加上一偏移量。提供加上后的工作电压给内存，并使计算机使用内存执行内存测试程序。在计算机不正常运作时，判定先前电压为内存的一第一电压临界值，透过重新开机接口，触发计算机重新开机，并测量内存的一第二电压临界值。

主权项

一种内存工作电压范围测量方法，其特征在于，包含：使一内存插设于一计算机，其中该计算机包含一重新开机接口；令一参考电压作为一工作电压，以提供给该内存，并使该计算机使用该内存执行一内存测试程序；持续侦测该计算机是否正常运作；在该计算机执行完成该内存测试程序时，将该内存的该工作电压记录为一先前电压；将该工作电压加上一偏移量；提供该加上后的工作电压给该内存，并使该计算机使用该内存执行该内存测试程序；以及在该计算机不正常运作时，判定该先前电压为该内存的一第一电压临界值，透过该重新开机接口，触发该计算机重新开机，并测量该内存的一第二电压临界值。