[发明专利]内存工作电压范围测量方法无效
| 申请号: | 200910165935.4 | 申请日: | 2009-08-18 |
| 公开(公告)号: | CN101996118A | 公开(公告)日: | 2011-03-30 |
| 发明(设计)人: | 孙佑良 | 申请(专利权)人: | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/24 | 分类号: | G06F11/24 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 陈红 |
| 地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 内存 工作 电压 范围 测量方法 | ||
1.一种内存工作电压范围测量方法,其特征在于,包含:
使一内存插设于一计算机,其中该计算机包含一重新开机接口;
令一参考电压作为一工作电压,以提供给该内存,并使该计算机使用该内存执行一内存测试程序;
持续侦测该计算机是否正常运作;
在该计算机执行完成该内存测试程序时,将该内存的该工作电压记录为一先前电压;
将该工作电压加上一偏移量;
提供该加上后的工作电压给该内存,并使该计算机使用该内存执行该内存测试程序;以及
在该计算机不正常运作时,判定该先前电压为该内存的一第一电压临界值,透过该重新开机接口,触发该计算机重新开机,并测量该内存的一第二电压临界值。
2.根据权利要求1所述的内存工作电压范围测量方法,其特征在于,测量该内存的该第二电压临界值包含:
令该参考电压减去该偏移量作为该工作电压,以提供给该内存,并使该计算机使用该内存执行该内存测试程序;
在该计算机执行完成该内存测试程序时,将该内存的该工作电压记录为另一先前电压;
将该工作电压减去该偏移量;
提供该减去后的工作电压给该内存,并使该计算机使用该内存执行该内存测试程序;以及
在该计算机不正常运作时,判定该另一先前电压为该内存的该第二电压临界值。
3.根据权利要求2所述的内存工作电压范围测量方法,其特征在于,还包含:
判定该内存的一工作电压范围为该第一电压临界值以及该第二电压临界值之间。
4.根据权利要求2所述的内存工作电压范围测量方法,其特征在于,持续侦测该计算机是否正常运作包含:
持续自该计算机接收一确认回复,其中在自该计算机收到该确认回复时,判定该计算机仍正常运作。
5.根据权利要求4所述的内存工作电压范围测量方法,其特征在于,还包含:
持续传送一确认要求至该计算机。
6.根据权利要求4所述的内存工作电压范围测量方法,其特征在于,该确认回复是透过一确认接口所取得。
7.根据权利要求6所述的内存工作电压范围测量方法,其特征在于,该确认接口为内部整合电路、串行端口或网络。
8.根据权利要求1所述的内存工作电压范围测量方法,其特征在于,该重新开机接口为基板管理控制器。
9.根据权利要求1所述的内存工作电压范围测量方法,其特征在于,该工作电压是透过一可调整电压的治具提供给该内存。
10.根据权利要求1所述的内存工作电压范围测量方法,其特征在于,还包含:
透过一使用者接口设定该偏移量。
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