[发明专利]多层探针组及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200910134736.7 申请日: 2009-04-20
公开(公告)号: CN101865937A 公开(公告)日: 2010-10-20
发明(设计)人: 陈志忠 申请(专利权)人: 旺矽科技股份有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R3/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种提供电性测试用的多层探针组及其制造方法,是运用光刻工艺于一基板上制出多个悬臂探针,该多层探针组包含有:一绝缘强化层是设置于该基板上,并形成有至少二连通电路的开口;至少二导电件,分别设置于该绝缘强化层的开口中,且被绝缘强化层包覆与支撑;至少二悬臂探针,该各悬臂探针分别具有一梁构件及一针尖构件;这些梁构件分别与该导电件连接,且至少一梁构件的局部表面贴接撑靠于该绝缘强化层上,这些针尖构件连接于该梁构件上;使贴接撑靠于该绝缘强化层上的悬臂探针结构稳定性较佳。
搜索关键词: 多层 探针 及其 制造 方法
【主权项】:
一种多层探针组,用于电性测试,其特征在于,包含有:一基板,该基板具备电路;一绝缘强化层,设置于该基板上,并形成有至少二连通电路的开口;至少二导电件,分别设置于该绝缘强化层的开口中,且该二导电件至少部分被该绝缘强化层包覆支撑;至少二悬臂探针,该各悬臂探针分别具有一梁构件及一针尖构件;该梁构件分别与该导电件连接,该针尖构件连接于该梁构件上。
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