[发明专利]电子部件的测试装置用部件及该电子部件的测试方法有效
| 申请号： | 200910006396.X | 申请日： | 2009-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN101604000A | 公开（公告）日： | 2009-12-16 |
| 发明（设计）人： | 小泉大辅;小桥直人;赤崎裕二 | 申请（专利权）人： | 富士通微电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王玉双;黄 艳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种电子部件的测试装置用部件及该电子部件的测试方法，其中所述电子部件的测试装置用部件包括：测试板；设置在该测试板的主表面上的突出电极；设置在该测试板的主表面上的定位部，该定位部构造为定位该电子部件；及按压部，其构造为按压由该定位部定位的电子部件，并使得该电子部件的引线部与该突出电极接触，从而该引线部发生弹性变形并与该突出电极接触。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 部件 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电子部件的测试装置用部件，包括：测试板；突出电极，其设置在该测试板的主表面上；定位部，其设置在该测试板的主表面上，该定位部构造为定位该电子部件；及按压部，其构造为按压由该定位部定位的电子部件，并使得该电子部件的引线部与该突出电极接触，从而该引线部发生弹性变形并与该突出电极接触。
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